温度の検証

なぜ、温度を検証するのか?

正しくない温度において、試験や製造を実施すると、良くない結果の原因となることがあります。 温度の正確さや均一性の変動は、製品の品質低下や試験データの不整合性を生じる、重要な要因であり、しばしば気付かれないこともります。 システムの温度測定の検証は、充分な頻度で行われてない、あるいは適切な手順で行われてない、または正しい手法で行われてないこと等がよく見受けられます。 この問題に対処するためインストロンは、校正室と関連する製造工程における、多くの共通的する要求に沿った、温度検証手順を開発してきました。 これらの手順は、ISO/IEC 17025に完全に準拠するとともに、実施された場合、お客様の試験データが有効であり、製造工程が正しく管理されているとの保証を提供します。

検証する装置

検証する代表的な装置の例: 

  • インストロンやSFLおよび大半のメーカにより制作された恒温槽及び炉
  • 温度データ・ロガー
  • 温度制御を利用する試験装置

実施内容

インストロンは実施現場において2種類の温度検証を行います。 タイプ1は”インサイト(In-Site)”と称するもので、温度検証すべき位置に校正された熱電対を置き、その読み値をシステムの読み値と比較することにより実施します。 タイプ2は”センサーサブスティテューション”と称し、校正された信号を検証すべき計測器に入力することから成ります。 これは熱電対(mV)または測温抵抗体(ohms)の信号が正しく入力される場合をシミュレートします。 タイプ1の方がシステム全体を検証するので望ましいと言えます。 タイプ2は電子回路系のみが検証されるので、タイプ1の検証が不可能であったり、現実的でない場合に実施されます。 タイプ1は1つの温度のみ(例えば、その工程における現行の温度)で実施されることがありますが、そのような場合、全温度範囲で電子回路系が正しく作動していることを保証するために、タイプ2が行われます。

温度範囲

タイプ1: -200~ +350

(拡張不確かさは、-200~+300℃の範囲で約1℃であり、より高温の範囲では大きくなります。) 

  •  350℃を超える温度校正に関してはお問い合わせください。
  •  校正温度・温度検証ポイント数によっては金額が異なりますのでお問い合わせください。


タイプ2: -200~ +1800℃

(拡張不確かさは、熱電対の種類と温度に依存して、約1~2℃です。)

*タイプ1、2ともに校正する室温は23℃±5℃(18℃~28℃)の範囲で実施する必要があります。

研究室の校正計画の管理を、高度化するには?

インストロンは、お客様の装置と設置場所に関する情報をデータベースに保存しています。 それにより、お客様が指定した再校正の期日を常にフォローすることができますので、事前の電話連絡により、ご都合が良い適切な日程を設定させていただく事ができます。 データと証明書のバックアップは、インストロンの校正室のデータベースに保存されます。