ASTM E8金属材料の引張試験

試験片保護機能

試験の設定中に試験片がグリップに挿入されると、通常、不要な圧縮荷重が発生します。これは、圧力によって少量の材料が変位し、試験片本体に押し戻されることによって、事実上ロードセルを押すことになるためです。このような不要な荷重は、サンプルを変形させ、試験データに誤差を生じさせる原因となります。比例グリップは、試験の設定時に大きな力を加えないため、非比例グリップでないグリップに比べて、これらの不要な力を低く抑えることができます。Instron 5900シリーズは、試験用に選択されたグリップソリューションにかかわらず、試験の設定中にクロスヘッドの位置を自動的に調整し、圧縮荷重を自動的に除去する試験片保護機能を備えています。

引張強度測定用伸び計

多くの金属試験規格では、弾性係数や降伏などの低ひずみ値での特性測定には高精度な装置を、均一伸度や全伸びなどの高ひずみ値にはやや低精度な装置を使用することが求められています。ASTM E8 / E8Mでは、5%ひずみ以下の降伏値および伸び値を測定するために、クラスB2以上の装置（ASTM E83による）を要求しています。5%以上のひずみを測定する場合は、クラスC以上の装置が必要です。

ASTM E8の試験で一般的に使用される伸び計には、クリップ式装置、非接触式装置、自動接触式伸び計の3つのタイプがあります。一般的には、2630シリーズなどのクリップ式伸び計が使用されています。これらのデバイスは、非常に正確で安定したひずみデータを提供することができ、一般的に他のタイプよりも安価で購入することができます。また、高処理能力の試験室に耐え、高容量の金属試験片の破損によるあらゆる衝撃を吸収するのに十分な堅牢性が必要です。

AutoX750のような自動接触装置では、繰り返しクランプ力と配置が可能なため、クリップ式伸び計を手動で配置する際のばらつきをなくすことができます。また、自動接触式装置は複数のゲージ長に対応できるため、さまざまな種類の試験片を試験する必要があるユーザーにとって、高いコスト効率を実現します。AutoX750をBluehill^® Universalソフトウェアと組み合わせて、試験片の破断直前に自動的に取り外すように設定し、ナイフエッジの過剰な摩耗を防ぐことができます。

AVE 2自動ビデオ伸び計のような非接触式の装置では、伸び計が試験片に接触することで発生する影響を取り除くことができるという利点があります。たとえば、試験片が非常に薄い場合、クリップ式装置の重量で結果が大きく変わってしまうことがあります。また、壊れやすい試験片に装置を貼り付けるためのナイフエッジは、試験片を傷つけ、早期破断の原因になることがあります。さらに、AVEは材料に接触しないため、高容量材料の試験でも伸び計の破損や摩耗の心配はありません。

計算と結果

ASTM E8/E8M試験で必要とされるすべての計算は、Bluehill Universalにあらかじめ設定されています。ゼロから独自のメソッドを構築したい方のために、手動で計算を入力してASTME8に沿う試験を簡単に設定することもできます。また、金属試験メソッドパッケージでは、ASTM E8/E8M、ASTM A370、ASTM 615、ASTM E646、ASTM E517、ISO 6892-1、EN10002、ISO 10113、ISO 10275のすべてに準じた予め構築済みのメソッドを提供します。

試験処理能力

ASTM E8/E8Mに準拠した試験を行う試験室の多くは、定期的に大量の試験片を試験する必要があります。そのため、試験処理能力の向上は試験室に非常に有利です。幸いなことに、ASTME8/E8M試験の処理能力を上げるための多くのオプションがあります。ソフトウェアの設定のちょっとした変更によって、繰り返しの操作を削減したり、グリップや伸び計の中には、セットアップ時間を短縮し、再現性を高めることで、再試験の必要性を低減できるものがあります。最後に、試験工程全体を完全に自動化するオプションがあり、オペレーターの操作なしで数時間にわたって試験を実行することができます。

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