BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//Instron - ECPv6.18.0//NONSGML v1.0//EN
CALSCALE:GREGORIAN
METHOD:PUBLISH
X-WR-CALNAME:Instron
X-ORIGINAL-URL:https://www.instron.jp/ja/
X-WR-CALDESC:Instron のイベント
REFRESH-INTERVAL;VALUE=DURATION:PT1H
X-Robots-Tag:noindex
X-PUBLISHED-TTL:PT1H
BEGIN:VTIMEZONE
TZID:America/New_York
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20250309T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20251102T060000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20260308T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20261101T060000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20270314T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20271107T060000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20280312T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20281105T060000
END:STANDARD
END:VTIMEZONE
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20261112T100000
DTEND;TZID=America/New_York:20261112T110000
DTSTAMP:20261012T113250Z
CREATED:20261012T113250Z
LAST-MODIFIED:20261012T113250Z
UID:10001081-1794477600-1794481200@www.instron.jp
SUMMARY:The Continuum of Automation in Mechanical Testing of Combination Products
DESCRIPTION:Automation is a frequent topic of conversation within the drug delivery device industry\, but determining the right level of automation for a given lab environment can often be challenging. \nThis session offers a look at the full range of automation options for mechanical testing from the consolidation of different data streams up to a completely automated high throughput system\, and discusses the value added at each stage. Rather than a one-size-fits-all approach\, we’ll help you reframe what exactly automation can mean\, and think through what automation could look like for your specific lab. \nWhat You’ll Learn: \n\nWhat’s driving labs across industries to consider automation\nHow automation supports both efficiency and data integrity/traceability goals\nWhat low\, mid\, and high levels of automation look like for mechanical testing\nBenefits of automation at each level\n\nRegister Now
URL:https://www.instron.jp/ja/event/the-continuum-of-automation-in-mechanical-testing-of-combination-products/
LOCATION:バーチャル
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/10/instron-ct6-cobot-testing-system-configured-for-autoinjector-testing.jpg
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20261117T080000
DTEND;TZID=America/New_York:20261117T163000
DTSTAMP:20260616T200947Z
CREATED:20260515T135743Z
LAST-MODIFIED:20260616T200947Z
UID:10000462-1794902400-1794933000@www.instron.jp
SUMMARY:静的材料試験入門
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will learn about materials testing. The course highlights the basics of materials testing including mechanical properties\, different types of testing\, stress/strain test curves\, modulus\, yield\, and application testing with demonstrations on computerized materials test instruments. Students will observe tensile\, compressive\, flexural\, and peel tests to learn to interpret test curves and calculated results. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nUnderstand basic materials testing terminology\, theory and concepts\nUnderstand typical force/displacement test curves and be able to distinguish between different types of curves\nDo’s and Dont’s when running typical tensile\, compression\, flexure\, and peel tests\nLearn good testing procedures when using a computerized testing instrument to perform tension\, compression\, flexural and peel testing\nLearn the importance of system calibration for data accuracy\nUnderstand specimen geometry and the importance of specimen dimensions\nCalculate stress\, strain\, elongation\, modulus\, offset yield\, and other advanced calculations\nBe able to interpret test curves and to label major points and results\nUnderstand different types of strain measurements and devices\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/introduction-to-static-materials-testing-11-17-2026/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20261117T110000
DTEND;TZID=America/New_York:20261117T120000
DTSTAMP:20261014T115127Z
CREATED:20260615T142312Z
LAST-MODIFIED:20261014T115127Z
UID:10000380-1794913200-1794916800@www.instron.jp
SUMMARY:繰り返しの自動化：自動化がプラスチック試験をどのように最適化するか
DESCRIPTION:自動化は、プラスチック試験ラボにおける一貫性、処理能力、およびオペレーターに依存しない試験結果の向上に大きな変革をもたらしています。自動化には大規模で完全なロボットシステムが必要だと思われがちですが、実際にはシンプルなワークフローの改善から完全に統合された試験セルまで、幅広いソリューションが存在します。本セッションでは、再現性の強化、日常業務の効率化、そして必要に応じた真の無人試験（ライツアウト・テスティング）をサポートするための、自動化の具体的な活用方法を探ります。   \n本コースで習得できる内容\n • 自動化による再現性と精度の向上（特に大量のQCワークフローにおいて）\n • 処理能力の向上とボトルネックの解消により、厳しい生産スケジュールに対応する方法\n • 夜間や24時間体制でラボを稼働させるための「無人試験」戦略 \n受講対象者\n大量のQC試験を行うラボ、材料サプライヤー、自動車・電子機器メーカー、および自動機械試験の導入を検討されている方。 \nインストロンが選ばれる理由\nロボットによる試験片ハンドリングから完全に統合された試験セルまで、インストロンは世界中のラボにおいて品質を損なうことなく能力を拡張するお手伝いをしてきました。本セッションでは、その知見を詳しくご紹介します。 \n今すぐ登録する
URL:https://www.instron.jp/ja/event/putting-it-on-repeat-how-automation-optimizes-plastics-testing/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:ウェビナー
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/06/automation-in-plastics-testing-webinar.jpg
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20261118T080000
DTEND;TZID=America/New_York:20261118T163000
DTSTAMP:20260616T200909Z
CREATED:20260515T135745Z
LAST-MODIFIED:20260616T200909Z
UID:10000449-1794988800-1795019400@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験メソッド開発入門
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the basic tools and features of Bluehill Universal. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of projects designed to foster an understanding of basic Test Method development. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nRun tests\, generate graphs\, and produce test reports\nSetup calculations and test results\nCreate\, save and retrieve test method and same data files\nSetup test control parameter\nExport results and raw data\nStreamline your workflow using Bluehill best practices\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-11-18-2026/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/high-wycombe-classroom-with-instructor.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20261119T080000
DTEND;TZID=America/New_York:20261119T163000
DTSTAMP:20260616T200724Z
CREATED:20260515T135746Z
LAST-MODIFIED:20260616T200724Z
UID:10000430-1795075200-1795105800@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 高度な試験方法開発
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore advanced tools and features of Bluehill Universal. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of projects designed to foster an understanding of advanced Test Method development and administrative controls. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nUtilize the Expression Builder function through the method development process\nUnderstand calculation and graphical domains\nUnderstand virtual measurements utilization\nSetup custom transducers\nUnderstand the features on Instron Connect\nSetup software Security and login settings\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development-11-19-2026/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/student-with-instructor-norwood-classroom.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20261120T080000
DTEND;TZID=America/New_York:20261120T163000
DTSTAMP:20260616T200714Z
CREATED:20260515T135748Z
LAST-MODIFIED:20260616T200714Z
UID:10000431-1795161600-1795192200@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler法開発
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the various tools and functions of Bluehill Universal’s powerful TestProfiler feature. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of realistic projects designed to prepare the student for the unique demands of his or her laboratory. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nDesign your own TestProfiler tests\nCreate\, load\, and save your own profiler waveforms\nUse enhanced load or strain control\nCreate different waveforms – absolute/relative ramps\, triangle\, holds and more\nSelect results from specific test segments\nAugment test sequences with Actions and Events\nUtilize domain expressions based on waveform\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development-11-20-2026/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/high-wycombe-classroom-with-instructor.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20261207T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20261207T163000
DTSTAMP:20260616T194021Z
CREATED:20260515T163125Z
LAST-MODIFIED:20260616T194021Z
UID:10000288-1796634000-1796661000@www.instron.jp
SUMMARY:静的材料試験入門
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will learn about materials testing. The course highlights the basics of materials testing including mechanical properties\, different types of testing\, stress/strain test curves\, modulus\, yield\, and application testing with demonstrations on computerized materials test instruments. Students will observe tensile\, compressive\, flexural\, and peel tests to learn to interpret test curves and calculated results. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nUnderstand basic materials testing terminology\, theory and concepts\nUnderstand typical force/displacement test curves and be able to distinguish between different types of curves\nDo’s and Dont’s when running typical tensile\, compression\, flexure\, and peel tests\nLearn good testing procedures when using a computerized testing instrument to perform tension\, compression\, flexural and peel testing\nLearn the importance of system calibration for data accuracy\nUnderstand specimen geometry and the importance of specimen dimensions\nCalculate stress\, strain\, elongation\, modulus\, offset yield\, and other advanced calculations\nBe able to interpret test curves and to label major points and results\nUnderstand different types of strain measurements and devices\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/introduction-to-static-materials-testing-12-07-2026/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2020/10/free-training-homepage-news.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20261208T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20261208T163000
DTSTAMP:20260616T193958Z
CREATED:20260515T163126Z
LAST-MODIFIED:20260616T193958Z
UID:10000284-1796720400-1796747400@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験方法開発入門
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the basic tools and features of Bluehill Universal. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of projects designed to foster an understanding of basic Test Method development. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nRun tests\, generate graphs\, and produce test reports\nSetup calculations and test results\nCreate\, save and retrieve test method and same data files\nSetup test control parameter\nExport results and raw data\nStreamline your workflow using Bluehill best practices\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-12-08-2026/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/dogbone-with-course-materials.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20261209T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20261209T163000
DTSTAMP:20260616T192812Z
CREATED:20260515T163130Z
LAST-MODIFIED:20260616T192812Z
UID:10000194-1796806800-1796833800@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 上級試験方法開発
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore advanced tools and features of Bluehill Universal. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of projects designed to foster an understanding of advanced Test Method development and administrative controls. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nUtilize the Expression Builder function through the method development process\nUnderstand calculation and graphical domains\nUnderstand virtual measurements utilization\nSetup custom transducers\nUnderstand the features on Instron Connect\nSetup software Security and login settings\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development-12-09-2026/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2025/03/instron-training-hp.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20261210T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20261210T163000
DTSTAMP:20260616T192656Z
CREATED:20260515T163132Z
LAST-MODIFIED:20260616T192656Z
UID:10000177-1796893200-1796920200@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler メソッド開発
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the various tools and functions of Bluehill Universal’s powerful TestProfiler feature. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of realistic projects designed to prepare the student for the unique demands of his or her laboratory. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nDesign your own TestProfiler tests\nCreate\, load\, and save your own profiler waveforms\nUse enhanced load or strain control\nCreate different waveforms – absolute/relative ramps\, triangle\, holds and more\nSelect results from specific test segments\nAugment test sequences with Actions and Events\nUtilize domain expressions based on waveform\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development-12-10-2026/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/student-with-touchscreen-instructor-norwood-classroom.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270125T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270125T170000
DTSTAMP:20260918T151908Z
CREATED:20260918T151908Z
LAST-MODIFIED:20260918T151908Z
UID:10001035-1800867600-1800896400@www.instron.jp
SUMMARY:静的材料試験入門
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者は材料試験について学びます。本コースでは、機械的特性、さまざまな試験の種類、応力・ひずみ曲線、弾性係数、降伏、およびコンピュータ化された材料試験機によるデモンストレーションを含むアプリケーション試験など、材料試験の基礎に焦点を当てます。受講者は引張、圧縮、曲げ、および剥離試験を観察し、試験曲線と計算結果の解釈方法を学びます。プログラムの詳細はコース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります： \n\n材料試験の基本的な用語、理論、概念の理解\n典型的な荷重・変位試験曲線の理解と、異なる種類の曲線の判別\n一般的な引張、圧縮、曲げ、剥離試験を実施する際の注意事項（Do’s and Dont’s）\nコンピュータ化された試験機を使用して引張、圧縮、曲げ、剥離試験を行う際の適切な試験手順の習得\nデータ精度のためのシステム校正の重要性の習得\n試験片の形状と寸法の重要性の理解\n応力、ひずみ、伸び、弾性係数、オフセット降伏、およびその他の高度な計算\n試験曲線の解釈と、主要なポイントおよび結果のラベル付け\nさまざまな種類のひずみ測定と測定デバイスの理解\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/introduction-to-static-materials-testing-9/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2024/11/virtual-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270126T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270126T170000
DTSTAMP:20260918T151922Z
CREATED:20260918T151922Z
LAST-MODIFIED:20260918T151922Z
UID:10000842-1800954000-1800982800@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験メソッド開発の概要
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者は認定Instronトレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの基本ツールと機能を学びます。実習形式で、基本的な試験方法（Test Method）開発の理解を深めるために設計された一連のプロジェクトを、インストラクターがガイドします。プログラム全体を確認するには、コース概要をダウンロードしてください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n試験の実行、グラフの生成、試験レポートの作成\n計算と試験結果の設定\n試験方法と同じデータファイルの作成、保存、取得\n試験制御パラメータの設定\n結果と生データのエクスポート\nBluehillのベストプラクティスを活用してワークフローを効率化\n\nこのコースに登録
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/06/online-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270127T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270127T170000
DTSTAMP:20260918T171030Z
CREATED:20260918T171030Z
LAST-MODIFIED:20260918T171030Z
UID:10000882-1801040400-1801069200@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 高度な試験方法開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの高度なツールと機能を学びます。実践的なアプローチで、インストラクターが一連のプロジェクトを通して、上級レベルの試験方法（Test Method）開発と管理者向けコントロールの理解を深められるよう指導します。コース概要をダウンロードして、プログラム全体をご確認ください。 \n本コース修了後、以下ができるようになります。 \n\nメソッド開発プロセスを通してExpression Builder機能を活用する\n計算およびグラフィカルドメインを理解する\n仮想測定の活用を理解する\nカスタムトランスデューサを設定する\nInstron® Connectの機能を理解する\nソフトウェアのセキュリティおよびログイン設定を設定する\n\nこのコースに登録
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/classroom-with-projector.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270128T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270128T170000
DTSTAMP:20260918T171045Z
CREATED:20260918T171045Z
LAST-MODIFIED:20260918T171045Z
UID:10000927-1801126800-1801155600@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler メソッド開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの強力なTestProfiler機能に搭載された各種ツールと機能を学びます。実践的なアプローチで、受講者それぞれのラボ固有の要件に対応できるよう設計された、現実的なプロジェクトを段階的に進めていきます。プログラム全体を確認するには、コース概要をダウンロードしてください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n独自のTestProfiler試験を設計\n独自のプロファイラー波形を作成、読み込み、保存\n強化された荷重またはひずみ制御を使用\nさまざまな波形を作成（絶対/相対ランプ、三角波、ホールドなど）\n特定の試験セグメントから結果を選択\nアクションとイベントで試験シーケンスを拡張\n波形に基づくドメイン式を活用\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2024/11/virtual-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270201T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270201T170000
DTSTAMP:20260918T151913Z
CREATED:20260918T151913Z
LAST-MODIFIED:20260918T151913Z
UID:10000864-1801472400-1801501200@www.instron.jp
SUMMARY:静的材料試験入門
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者は材料試験について学びます。このコースでは、機械的特性、さまざまな種類の試験、応力・ひずみ曲線、弾性率、耐力、およびコンピュータ制御の材料試験機を使用したデモンストレーションを含むアプリケーション試験など、材料試験の基礎に焦点を当てます。受講者は、引張、圧縮、曲げ、剥離試験を観察し、試験曲線と計算結果の解釈方法を学びます。プログラムの詳細は、コース概要をダウンロードしてご確認ください。 \nこのコースを修了すると、以下のことができるようになります。 \n\n材料試験の基本的な用語、理論、概念の理解\n代表的な荷重／変位試験曲線の理解と、異なる種類の曲線の判別\n一般的な引張、圧縮、曲げ、剥離試験を実施する際の注意事項（Do’s and Don’ts）\nコンピュータ制御の試験機を使用して引張、圧縮、曲げ、剥離試験を行う際の適切な試験手順の習得\nデータ精度のためのシステム校正の重要性の習得\n試験片の形状と試験片寸法の重要性の理解\n応力、ひずみ、伸び、弾性率、オフセット耐力、およびその他の高度な計算の実施\n試験曲線の解釈と、主要なポイントおよび結果のラベル付け\nさまざまな種類のひずみ測定と装置の理解\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/introduction-to-static-materials-testing-13/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/student-raising-hand-classroom-with-instructor.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270202T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270202T170000
DTSTAMP:20260918T152004Z
CREATED:20260918T152004Z
LAST-MODIFIED:20260918T152004Z
UID:10000703-1801558800-1801587600@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal Introduction to Test Method Development
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the basic tools and features of Bluehill Universal. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of projects designed to foster an understanding of basic Test Method development. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nRun tests\, generate graphs\, and produce test reports\nSetup calculations and test results\nCreate\, save and retrieve test method and same data files\nSetup test control parameter\nExport results and raw data\nStreamline your workflow using Bluehill best practices\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-3/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270202T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270202T170000
DTSTAMP:20260918T180905Z
CREATED:20260918T180905Z
LAST-MODIFIED:20260918T180905Z
UID:10000975-1801558800-1801587600@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験メソッド開発の概要
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者はInstron認定トレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの基本ツールと機能を学びます。実習形式で、基本的な試験方法（Test Method）開発の理解を深めるために設計された一連のプロジェクトを、インストラクターがガイドします。プログラム全体を確認するには、コース概要をダウンロードしてください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n試験の実行、グラフの作成、試験レポートの作成\n計算および試験結果の設定\n試験方法と同じデータファイルの作成、保存、呼び出し\n試験制御パラメータの設定\n結果および生データのエクスポート\nBluehillのベストプラクティスを活用してワークフローを効率化\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-02-02-2027/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/06/online-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270203T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270203T170000
DTSTAMP:20260918T171036Z
CREATED:20260918T171036Z
LAST-MODIFIED:20260918T171036Z
UID:10000954-1801645200-1801674000@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 高度な試験方法開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者はインストロン認定トレーニング講師とともに、Bluehill Universalの高度なツールや機能を詳しく学びます。実践的なアプローチを通じて、講師が高度な試験メソッドの開発や管理コントロールの理解を深めるために設計された一連のプロジェクトを指導します。プログラムの詳細はコース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります： \n\nメソッド開発プロセスにおける演算式ビルダ機能の活用\n計算およびグラフィカルドメインの理解\n仮想計測の活用の理解\nカスタムトランスデューサの設定\nInstron® Connectの機能の理解\nソフトウェアのセキュリティおよびログイン設定\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development-9/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/classroom-with-instructor-big-projector.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270204T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270204T170000
DTSTAMP:20260918T171129Z
CREATED:20260918T171129Z
LAST-MODIFIED:20260918T171129Z
UID:10000817-1801731600-1801760400@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler メソッド開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの強力なTestProfiler機能に搭載された各種ツールと機能を学びます。実習形式で、受講者それぞれのラボ固有の要件に対応できるよう設計された、現実的なプロジェクトを段階的に進めていきます。プログラムの全内容は、コース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n独自のTestProfiler試験を設計\n独自のプロファイラー波形を作成、読み込み、保存\n強化された荷重またはひずみ制御を使用\nさまざまな波形を作成（絶対/相対ランプ、三角波、保持など）\n特定の試験セグメントから結果を選択\nアクションとイベントで試験シーケンスを拡張\n波形に基づくドメイン式を活用\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development-5/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2024/11/regional-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270309T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270309T170000
DTSTAMP:20260918T151918Z
CREATED:20260918T151918Z
LAST-MODIFIED:20260918T151918Z
UID:10000737-1804582800-1804611600@www.instron.jp
SUMMARY:静的材料試験入門
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者は材料試験について学びます。このコースでは、機械的特性、さまざまな試験の種類、応力・ひずみ曲線、弾性係数、降伏、およびコンピュータ制御の材料試験機を使用した実演を含むアプリケーション試験など、材料試験の基礎に焦点を当てます。受講者は引張、圧縮、曲げ、および剥離試験を観察し、試験曲線と計算結果の解釈方法を学びます。プログラムの詳細は、コース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります： \n\n材料試験の基本的な用語、理論、および概念の理解\n代表的な荷重・変位試験曲線の理解と、異なる種類の曲線の判別\n代表的な引張、圧縮、曲げ、および剥離試験を実施する際の注意事項（Do’s and Dont’s）\nコンピュータ制御の試験機を使用して引張、圧縮、曲げ、および剥離試験を行う際の適切な試験手順の習得\nデータ精度のためのシステム校正の重要性の理解\n試験片の形状と寸法の重要性の理解\n応力、ひずみ、伸び、弾性係数、オフセット耐力、およびその他の高度な計算の実施\n試験曲線の解釈と、主要なポイントおよび結果のラベル付け\nさまざまな種類のひずみ測定と測定デバイスの理解\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/introduction-to-static-materials-testing-14/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/classroom-with-projector.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270310T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270310T170000
DTSTAMP:20260918T152008Z
CREATED:20260918T152008Z
LAST-MODIFIED:20260918T152008Z
UID:10000704-1804669200-1804698000@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal Introduction to Test Method Development
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the basic tools and features of Bluehill Universal. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of projects designed to foster an understanding of basic Test Method development. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nRun tests\, generate graphs\, and produce test reports\nSetup calculations and test results\nCreate\, save and retrieve test method and same data files\nSetup test control parameter\nExport results and raw data\nStreamline your workflow using Bluehill best practices\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-3/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270310T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270310T170000
DTSTAMP:20260918T181220Z
CREATED:20260918T181220Z
LAST-MODIFIED:20260918T181220Z
UID:10000981-1804669200-1804698000@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験メソッド開発の概要
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者はインストロンの認定トレーニングインストラクターと共に、Bluehill Universalの基本的なツールや機能を学びます。実践的なアプローチを用い、インストラクターの指導のもと、試験メソッド開発の基礎を理解するためのさまざまなプロジェクトに取り組みます。プログラムの詳細は、コース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n試験の実行、グラフの作成、試験レポートの作成\n計算式と試験結果の設定\n試験メソッドとサンプルデータファイルの作成、保存、呼び出し\n試験制御パラメータの設定\n結果と生データの出力\nBluehillのベストプラクティスを用いたワークフローの効率化\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-4/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/student-with-touchscreen-instructor-norwood-classroom.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270311T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270311T170000
DTSTAMP:20260918T171041Z
CREATED:20260918T171041Z
LAST-MODIFIED:20260918T171041Z
UID:10000789-1804755600-1804784400@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 高度な試験方法開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者は認定Instronトレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの高度なツールと機能を学びます。実践的なアプローチで、インストラクターが一連のプロジェクトを通して、高度な試験方法の開発と管理者向け制御の理解を深められるよう指導します。コース概要をダウンロードして、プログラム全体をご確認ください。 \nこのコースを修了すると、次のことができるようになります。 \n\n試験方法の開発プロセスを通してExpression Builder機能を活用する\n計算およびグラフ領域を理解する\n仮想測定の活用を理解する\nカスタムトランスデューサーを設定する\nInstron® Connectの機能を理解する\nソフトウェアのセキュリティおよびログイン設定を設定する\n\nこのコースに登録
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development-10/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/student-raising-hand-classroom-with-instructor.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270312T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270312T170000
DTSTAMP:20260918T171130Z
CREATED:20260918T171130Z
LAST-MODIFIED:20260918T171130Z
UID:10000772-1804842000-1804870800@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler メソッド開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定インストロン・トレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの強力なTestProfiler機能に搭載された各種ツールと機能を学びます。実習形式で、受講者それぞれのラボ特有の要件に対応できるよう、現実的なプロジェクトを通してインストラクターが指導します。コース概要をダウンロードして、プログラム全体をご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n独自のTestProfiler試験を設計\n独自のプロファイラ波形の作成、読み込み、保存\n強化された荷重またはひずみ制御を使用\nさまざまな波形を作成（絶対/相対ランプ、三角波、保持など）\n特定の試験セグメントから結果を選択\nアクションとイベントで試験シーケンスを拡張\n波形に基づくドメイン式を活用\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development-6/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/high-wycombe-classroom-with-instructor.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270315T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270315T170000
DTSTAMP:20260918T151909Z
CREATED:20260918T151909Z
LAST-MODIFIED:20260918T151909Z
UID:10001044-1805101200-1805130000@www.instron.jp
SUMMARY:静的材料試験入門
DESCRIPTION:この1日コースでは、材料試験について学びます。本コースでは、機械的特性、さまざまな試験の種類、応力・ひずみ試験曲線、弾性率、耐力、アプリケーション試験など、材料試験の基礎に焦点を当て、コンピューター制御の材料試験機を用いた実演を行います。受講者は、引張、圧縮、曲げ、剥離試験を観察し、試験曲線や算出された結果の解釈方法を学びます。プログラムの詳細は、コース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後には、以下のことが可能になります： \n\n材料試験の基本的な用語、理論、概念の理解\n代表的な荷重・変位試験曲線の理解と、異なる種類の曲線の判別\n代表的な引張、圧縮、曲げ、剥離試験を実施する際の注意事項（Do’s and Don’ts）の習得\nコンピューター制御の試験機を使用して引張、圧縮、曲げ、剥離試験を行う際の適切な試験手順の習得\nデータ精度のためのシステム校正の重要性の理解\n試験片の形状と寸法の重要性の理解\n応力、ひずみ、伸び、弾性率、オフセット耐力、およびその他の高度な計算の実施\n試験曲線の解釈と、主要なポイントおよび結果のラベル付け\nさまざまな種類のひずみ測定と測定デバイスの理解\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/introduction-to-static-materials-testing-10/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2024/11/virtual-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270316T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270316T170000
DTSTAMP:20260918T151923Z
CREATED:20260918T151923Z
LAST-MODIFIED:20260918T151923Z
UID:10000854-1805187600-1805216400@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験メソッド開発の概要
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターと共に、Bluehill Universalの基本的なツールと機能を学習します。実践的なアプローチを用いて、インストラクターが基本的なテストメソッド開発の理解を深めるために設計された一連のプロジェクトを通じて受講者を指導します。コース概要をダウンロードして、プログラムの全容をご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\nテストの実行、グラフの生成、テストレポートの作成\n計算とテスト結果の設定\nテストメソッドとデータファイルの作成、保存、取得\nテスト制御パラメータの設定\n結果と生データのエクスポート\nBluehillのベストプラクティスを使用したワークフローの効率化\n\nこのコースに登録する
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-2/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/06/online-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270317T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270317T170000
DTSTAMP:20260918T171032Z
CREATED:20260918T171032Z
LAST-MODIFIED:20260918T171032Z
UID:10000904-1805274000-1805302800@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 高度な試験方法開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターと共に、Bluehill Universalの高度なツールと機能を学習します。実践的なアプローチを用いて、インストラクターが高度な試験方法の開発と管理制御の理解を深めるために設計された一連のプロジェクトを通じて受講者を指導します。コース概要をダウンロードして、プログラム全体をご確認ください。 \nこのコースを修了すると、以下のことができるようになります: \n\n試験方法開発プロセスを通じてExpression Builder機能を活用する\n計算およびグラフィカルドメインを理解する\n仮想測定の活用を理解する\nカスタムトランスデューサを設定する\nInstron Connectの機能を理解する\nソフトウェアのセキュリティとログイン設定を行う\n\nこのコースに登録する
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development-6/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/dogbone-with-course-materials.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270318T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270318T170000
DTSTAMP:20260918T171050Z
CREATED:20260918T171050Z
LAST-MODIFIED:20260918T171050Z
UID:10000773-1805360400-1805389200@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler メソッド開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターと共に、Bluehill Universalの強力なTestProfiler機能の様々なツールと機能を学習します。実践的なアプローチを用いて、インストラクターは、受講者の研究室固有の要求に対応できるよう設計された一連の実践的なプロジェクトを通じて受講者を指導します。コース概要をダウンロードして、プログラムの全容をご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n独自のTestProfilerテストを設計\n独自のプロファイラー波形を作成、読み込み、保存\n拡張荷重制御またはひずみ制御を使用\n様々な波形を作成 – 絶対/相対ランプ、三角波、保持など\n特定のテストセグメントから結果を選択\nアクションとイベントでテストシーケンスを拡張\n波形に基づくドメイン式を活用\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development-2/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2024/11/virtual-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270427T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270427T170000
DTSTAMP:20260918T151919Z
CREATED:20260918T151919Z
LAST-MODIFIED:20260918T151919Z
UID:10000857-1808816400-1808845200@www.instron.jp
SUMMARY:静的材料試験入門
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者は材料試験について学びます。このコースでは、機械的特性、さまざまな試験の種類、応力/ひずみ試験曲線、弾性率、降伏、およびコンピュータ化された材料試験機器でのデモンストレーションを含むアプリケーション試験など、材料試験の基礎を重点的に取り上げます。受講者は、引張試験、圧縮試験、曲げ試験、およびピール試験を観察し、試験曲線と計算結果の解釈方法を学びます。コース概要をダウンロードして、プログラムの全容をご確認ください。 \nこのコースを修了すると、次のことができるようになります。 \n\n材料試験の基本的な用語、理論、概念を理解する\n典型的な荷重/変位試験曲線を理解し、さまざまな種類の曲線を区別できるようになる\n典型的な引張試験、圧縮試験、曲げ試験、およびピール試験を実施する際の注意事項\nコンピュータ化された試験機器を使用して引張試験、圧縮試験、曲げ試験、およびピール試験を実施する際の適切な試験手順を学ぶ\nデータの精度を確保するためのシステム校正の重要性を学ぶ\n試験片の形状と試験片寸法の重要性を理解する\n応力、ひずみ、伸び、弾性率、オフセット降伏、およびその他の高度な計算を行う\n試験曲線を解釈し、主要なポイントと結果にラベルを付けることができるようになる\nさまざまな種類のひずみ測定と測定装置を理解する\n\nこのコースに登録する
URL:https://www.instron.jp/ja/event/introduction-to-static-materials-testing-15/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/classroom-with-projector.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270428T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270428T170000
DTSTAMP:20260918T152011Z
CREATED:20260918T152011Z
LAST-MODIFIED:20260918T152011Z
UID:10000705-1808902800-1808931600@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal Introduction to Test Method Development
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the basic tools and features of Bluehill Universal. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of projects designed to foster an understanding of basic Test Method development. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nRun tests\, generate graphs\, and produce test reports\nSetup calculations and test results\nCreate\, save and retrieve test method and same data files\nSetup test control parameter\nExport results and raw data\nStreamline your workflow using Bluehill best practices\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-3/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
END:VCALENDAR