BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//Instron - ECPv6.18.2//NONSGML v1.0//EN
CALSCALE:GREGORIAN
METHOD:PUBLISH
X-WR-CALNAME:Instron
X-ORIGINAL-URL:https://www.instron.jp/ja/
X-WR-CALDESC:Instron のイベント
REFRESH-INTERVAL;VALUE=DURATION:PT1H
X-Robots-Tag:noindex
X-PUBLISHED-TTL:PT1H
BEGIN:VTIMEZONE
TZID:America/New_York
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20250309T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20251102T060000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20260308T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20261101T060000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20270314T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20271107T060000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20280312T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20281105T060000
END:STANDARD
END:VTIMEZONE
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20261118T080000
DTEND;TZID=America/New_York:20261118T163000
DTSTAMP:20260616T200909Z
CREATED:20260515T135745Z
LAST-MODIFIED:20260616T200909Z
UID:10000449-1794988800-1795019400@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験メソッド開発入門
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the basic tools and features of Bluehill Universal. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of projects designed to foster an understanding of basic Test Method development. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nRun tests\, generate graphs\, and produce test reports\nSetup calculations and test results\nCreate\, save and retrieve test method and same data files\nSetup test control parameter\nExport results and raw data\nStreamline your workflow using Bluehill best practices\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-11-18-2026/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/high-wycombe-classroom-with-instructor.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20261119T080000
DTEND;TZID=America/New_York:20261119T163000
DTSTAMP:20260616T200724Z
CREATED:20260515T135746Z
LAST-MODIFIED:20260616T200724Z
UID:10000430-1795075200-1795105800@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 高度な試験方法開発
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore advanced tools and features of Bluehill Universal. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of projects designed to foster an understanding of advanced Test Method development and administrative controls. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nUtilize the Expression Builder function through the method development process\nUnderstand calculation and graphical domains\nUnderstand virtual measurements utilization\nSetup custom transducers\nUnderstand the features on Instron Connect\nSetup software Security and login settings\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development-11-19-2026/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/student-with-instructor-norwood-classroom.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20261120T080000
DTEND;TZID=America/New_York:20261120T163000
DTSTAMP:20260616T200714Z
CREATED:20260515T135748Z
LAST-MODIFIED:20260616T200714Z
UID:10000431-1795161600-1795192200@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler法開発
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the various tools and functions of Bluehill Universal’s powerful TestProfiler feature. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of realistic projects designed to prepare the student for the unique demands of his or her laboratory. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nDesign your own TestProfiler tests\nCreate\, load\, and save your own profiler waveforms\nUse enhanced load or strain control\nCreate different waveforms – absolute/relative ramps\, triangle\, holds and more\nSelect results from specific test segments\nAugment test sequences with Actions and Events\nUtilize domain expressions based on waveform\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development-11-20-2026/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/high-wycombe-classroom-with-instructor.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20261207T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20261207T163000
DTSTAMP:20260616T194021Z
CREATED:20260515T163125Z
LAST-MODIFIED:20260616T194021Z
UID:10000288-1796634000-1796661000@www.instron.jp
SUMMARY:静的材料試験入門
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will learn about materials testing. The course highlights the basics of materials testing including mechanical properties\, different types of testing\, stress/strain test curves\, modulus\, yield\, and application testing with demonstrations on computerized materials test instruments. Students will observe tensile\, compressive\, flexural\, and peel tests to learn to interpret test curves and calculated results. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nUnderstand basic materials testing terminology\, theory and concepts\nUnderstand typical force/displacement test curves and be able to distinguish between different types of curves\nDo’s and Dont’s when running typical tensile\, compression\, flexure\, and peel tests\nLearn good testing procedures when using a computerized testing instrument to perform tension\, compression\, flexural and peel testing\nLearn the importance of system calibration for data accuracy\nUnderstand specimen geometry and the importance of specimen dimensions\nCalculate stress\, strain\, elongation\, modulus\, offset yield\, and other advanced calculations\nBe able to interpret test curves and to label major points and results\nUnderstand different types of strain measurements and devices\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/introduction-to-static-materials-testing-12-07-2026/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2020/10/free-training-homepage-news.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20261208T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20261208T163000
DTSTAMP:20260616T193958Z
CREATED:20260515T163126Z
LAST-MODIFIED:20260616T193958Z
UID:10000284-1796720400-1796747400@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験方法開発入門
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the basic tools and features of Bluehill Universal. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of projects designed to foster an understanding of basic Test Method development. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nRun tests\, generate graphs\, and produce test reports\nSetup calculations and test results\nCreate\, save and retrieve test method and same data files\nSetup test control parameter\nExport results and raw data\nStreamline your workflow using Bluehill best practices\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-12-08-2026/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/dogbone-with-course-materials.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20261209T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20261209T163000
DTSTAMP:20260616T192812Z
CREATED:20260515T163130Z
LAST-MODIFIED:20260616T192812Z
UID:10000194-1796806800-1796833800@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 上級試験方法開発
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore advanced tools and features of Bluehill Universal. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of projects designed to foster an understanding of advanced Test Method development and administrative controls. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nUtilize the Expression Builder function through the method development process\nUnderstand calculation and graphical domains\nUnderstand virtual measurements utilization\nSetup custom transducers\nUnderstand the features on Instron Connect\nSetup software Security and login settings\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development-12-09-2026/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2025/03/instron-training-hp.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20261210T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20261210T163000
DTSTAMP:20260616T192656Z
CREATED:20260515T163132Z
LAST-MODIFIED:20260616T192656Z
UID:10000177-1796893200-1796920200@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler メソッド開発
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the various tools and functions of Bluehill Universal’s powerful TestProfiler feature. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of realistic projects designed to prepare the student for the unique demands of his or her laboratory. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nDesign your own TestProfiler tests\nCreate\, load\, and save your own profiler waveforms\nUse enhanced load or strain control\nCreate different waveforms – absolute/relative ramps\, triangle\, holds and more\nSelect results from specific test segments\nAugment test sequences with Actions and Events\nUtilize domain expressions based on waveform\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development-12-10-2026/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/student-with-touchscreen-instructor-norwood-classroom.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270125T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270125T170000
DTSTAMP:20260918T151908Z
CREATED:20260918T151908Z
LAST-MODIFIED:20260918T151908Z
UID:10001035-1800867600-1800896400@www.instron.jp
SUMMARY:静的材料試験入門
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者は材料試験について学びます。本コースでは、機械的特性、さまざまな試験の種類、応力・ひずみ曲線、弾性係数、降伏、およびコンピュータ化された材料試験機によるデモンストレーションを含むアプリケーション試験など、材料試験の基礎に焦点を当てます。受講者は引張、圧縮、曲げ、および剥離試験を観察し、試験曲線と計算結果の解釈方法を学びます。プログラムの詳細はコース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります： \n\n材料試験の基本的な用語、理論、概念の理解\n典型的な荷重・変位試験曲線の理解と、異なる種類の曲線の判別\n一般的な引張、圧縮、曲げ、剥離試験を実施する際の注意事項（Do’s and Dont’s）\nコンピュータ化された試験機を使用して引張、圧縮、曲げ、剥離試験を行う際の適切な試験手順の習得\nデータ精度のためのシステム校正の重要性の習得\n試験片の形状と寸法の重要性の理解\n応力、ひずみ、伸び、弾性係数、オフセット降伏、およびその他の高度な計算\n試験曲線の解釈と、主要なポイントおよび結果のラベル付け\nさまざまな種類のひずみ測定と測定デバイスの理解\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/introduction-to-static-materials-testing-9/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2024/11/virtual-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270126T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270126T170000
DTSTAMP:20260918T151922Z
CREATED:20260918T151922Z
LAST-MODIFIED:20260918T151922Z
UID:10000842-1800954000-1800982800@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験メソッド開発の概要
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者は認定Instronトレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの基本ツールと機能を学びます。実習形式で、基本的な試験方法（Test Method）開発の理解を深めるために設計された一連のプロジェクトを、インストラクターがガイドします。プログラム全体を確認するには、コース概要をダウンロードしてください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n試験の実行、グラフの生成、試験レポートの作成\n計算と試験結果の設定\n試験方法と同じデータファイルの作成、保存、取得\n試験制御パラメータの設定\n結果と生データのエクスポート\nBluehillのベストプラクティスを活用してワークフローを効率化\n\nこのコースに登録
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/06/online-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270127T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270127T170000
DTSTAMP:20260918T171030Z
CREATED:20260918T171030Z
LAST-MODIFIED:20260918T171030Z
UID:10000882-1801040400-1801069200@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 高度な試験方法開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの高度なツールと機能を学びます。実践的なアプローチで、インストラクターが一連のプロジェクトを通して、上級レベルの試験方法（Test Method）開発と管理者向けコントロールの理解を深められるよう指導します。コース概要をダウンロードして、プログラム全体をご確認ください。 \n本コース修了後、以下ができるようになります。 \n\nメソッド開発プロセスを通してExpression Builder機能を活用する\n計算およびグラフィカルドメインを理解する\n仮想測定の活用を理解する\nカスタムトランスデューサを設定する\nInstron® Connectの機能を理解する\nソフトウェアのセキュリティおよびログイン設定を設定する\n\nこのコースに登録
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/classroom-with-projector.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270128T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270128T170000
DTSTAMP:20260918T171045Z
CREATED:20260918T171045Z
LAST-MODIFIED:20260918T171045Z
UID:10000927-1801126800-1801155600@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler メソッド開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの強力なTestProfiler機能に搭載された各種ツールと機能を学びます。実践的なアプローチで、受講者それぞれのラボ固有の要件に対応できるよう設計された、現実的なプロジェクトを段階的に進めていきます。プログラム全体を確認するには、コース概要をダウンロードしてください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n独自のTestProfiler試験を設計\n独自のプロファイラー波形を作成、読み込み、保存\n強化された荷重またはひずみ制御を使用\nさまざまな波形を作成（絶対/相対ランプ、三角波、ホールドなど）\n特定の試験セグメントから結果を選択\nアクションとイベントで試験シーケンスを拡張\n波形に基づくドメイン式を活用\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2024/11/virtual-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
END:VCALENDAR