BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//Instron - ECPv6.18.0//NONSGML v1.0//EN
CALSCALE:GREGORIAN
METHOD:PUBLISH
X-WR-CALNAME:Instron
X-ORIGINAL-URL:https://www.instron.jp/ja/
X-WR-CALDESC:Instron のイベント
REFRESH-INTERVAL;VALUE=DURATION:PT1H
X-Robots-Tag:noindex
X-PUBLISHED-TTL:PT1H
BEGIN:VTIMEZONE
TZID:America/New_York
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20260308T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20261101T060000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20270314T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20271107T060000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20280312T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20281105T060000
END:STANDARD
END:VTIMEZONE
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270310T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270310T170000
DTSTAMP:20260918T152008Z
CREATED:20260918T152008Z
LAST-MODIFIED:20260918T152008Z
UID:10000704-1804669200-1804698000@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal Introduction to Test Method Development
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the basic tools and features of Bluehill Universal. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of projects designed to foster an understanding of basic Test Method development. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nRun tests\, generate graphs\, and produce test reports\nSetup calculations and test results\nCreate\, save and retrieve test method and same data files\nSetup test control parameter\nExport results and raw data\nStreamline your workflow using Bluehill best practices\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-3/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270310T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270310T170000
DTSTAMP:20260918T181220Z
CREATED:20260918T181220Z
LAST-MODIFIED:20260918T181220Z
UID:10000981-1804669200-1804698000@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験メソッド開発の概要
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者はインストロンの認定トレーニングインストラクターと共に、Bluehill Universalの基本的なツールや機能を学びます。実践的なアプローチを用い、インストラクターの指導のもと、試験メソッド開発の基礎を理解するためのさまざまなプロジェクトに取り組みます。プログラムの詳細は、コース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n試験の実行、グラフの作成、試験レポートの作成\n計算式と試験結果の設定\n試験メソッドとサンプルデータファイルの作成、保存、呼び出し\n試験制御パラメータの設定\n結果と生データの出力\nBluehillのベストプラクティスを用いたワークフローの効率化\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-4/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/student-with-touchscreen-instructor-norwood-classroom.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270311T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270311T170000
DTSTAMP:20260918T171041Z
CREATED:20260918T171041Z
LAST-MODIFIED:20260918T171041Z
UID:10000789-1804755600-1804784400@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 高度な試験方法開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者は認定Instronトレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの高度なツールと機能を学びます。実践的なアプローチで、インストラクターが一連のプロジェクトを通して、高度な試験方法の開発と管理者向け制御の理解を深められるよう指導します。コース概要をダウンロードして、プログラム全体をご確認ください。 \nこのコースを修了すると、次のことができるようになります。 \n\n試験方法の開発プロセスを通してExpression Builder機能を活用する\n計算およびグラフ領域を理解する\n仮想測定の活用を理解する\nカスタムトランスデューサーを設定する\nInstron® Connectの機能を理解する\nソフトウェアのセキュリティおよびログイン設定を設定する\n\nこのコースに登録
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development-10/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/student-raising-hand-classroom-with-instructor.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270312T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270312T170000
DTSTAMP:20260918T171130Z
CREATED:20260918T171130Z
LAST-MODIFIED:20260918T171130Z
UID:10000772-1804842000-1804870800@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler メソッド開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定インストロン・トレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの強力なTestProfiler機能に搭載された各種ツールと機能を学びます。実習形式で、受講者それぞれのラボ特有の要件に対応できるよう、現実的なプロジェクトを通してインストラクターが指導します。コース概要をダウンロードして、プログラム全体をご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n独自のTestProfiler試験を設計\n独自のプロファイラ波形の作成、読み込み、保存\n強化された荷重またはひずみ制御を使用\nさまざまな波形を作成（絶対/相対ランプ、三角波、保持など）\n特定の試験セグメントから結果を選択\nアクションとイベントで試験シーケンスを拡張\n波形に基づくドメイン式を活用\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development-6/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/high-wycombe-classroom-with-instructor.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270315T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270315T170000
DTSTAMP:20260918T151909Z
CREATED:20260918T151909Z
LAST-MODIFIED:20260918T151909Z
UID:10001044-1805101200-1805130000@www.instron.jp
SUMMARY:静的材料試験入門
DESCRIPTION:この1日コースでは、材料試験について学びます。本コースでは、機械的特性、さまざまな試験の種類、応力・ひずみ試験曲線、弾性率、耐力、アプリケーション試験など、材料試験の基礎に焦点を当て、コンピューター制御の材料試験機を用いた実演を行います。受講者は、引張、圧縮、曲げ、剥離試験を観察し、試験曲線や算出された結果の解釈方法を学びます。プログラムの詳細は、コース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後には、以下のことが可能になります： \n\n材料試験の基本的な用語、理論、概念の理解\n代表的な荷重・変位試験曲線の理解と、異なる種類の曲線の判別\n代表的な引張、圧縮、曲げ、剥離試験を実施する際の注意事項（Do’s and Don’ts）の習得\nコンピューター制御の試験機を使用して引張、圧縮、曲げ、剥離試験を行う際の適切な試験手順の習得\nデータ精度のためのシステム校正の重要性の理解\n試験片の形状と寸法の重要性の理解\n応力、ひずみ、伸び、弾性率、オフセット耐力、およびその他の高度な計算の実施\n試験曲線の解釈と、主要なポイントおよび結果のラベル付け\nさまざまな種類のひずみ測定と測定デバイスの理解\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/introduction-to-static-materials-testing-10/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2024/11/virtual-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270316T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270316T170000
DTSTAMP:20260918T151923Z
CREATED:20260918T151923Z
LAST-MODIFIED:20260918T151923Z
UID:10000854-1805187600-1805216400@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験メソッド開発の概要
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターと共に、Bluehill Universalの基本的なツールと機能を学習します。実践的なアプローチを用いて、インストラクターが基本的なテストメソッド開発の理解を深めるために設計された一連のプロジェクトを通じて受講者を指導します。コース概要をダウンロードして、プログラムの全容をご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\nテストの実行、グラフの生成、テストレポートの作成\n計算とテスト結果の設定\nテストメソッドとデータファイルの作成、保存、取得\nテスト制御パラメータの設定\n結果と生データのエクスポート\nBluehillのベストプラクティスを使用したワークフローの効率化\n\nこのコースに登録する
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-2/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/06/online-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270317T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270317T170000
DTSTAMP:20260918T171032Z
CREATED:20260918T171032Z
LAST-MODIFIED:20260918T171032Z
UID:10000904-1805274000-1805302800@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 高度な試験方法開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターと共に、Bluehill Universalの高度なツールと機能を学習します。実践的なアプローチを用いて、インストラクターが高度な試験方法の開発と管理制御の理解を深めるために設計された一連のプロジェクトを通じて受講者を指導します。コース概要をダウンロードして、プログラム全体をご確認ください。 \nこのコースを修了すると、以下のことができるようになります: \n\n試験方法開発プロセスを通じてExpression Builder機能を活用する\n計算およびグラフィカルドメインを理解する\n仮想測定の活用を理解する\nカスタムトランスデューサを設定する\nInstron Connectの機能を理解する\nソフトウェアのセキュリティとログイン設定を行う\n\nこのコースに登録する
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development-6/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/dogbone-with-course-materials.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270318T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270318T170000
DTSTAMP:20260918T171050Z
CREATED:20260918T171050Z
LAST-MODIFIED:20260918T171050Z
UID:10000773-1805360400-1805389200@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler メソッド開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターと共に、Bluehill Universalの強力なTestProfiler機能の様々なツールと機能を学習します。実践的なアプローチを用いて、インストラクターは、受講者の研究室固有の要求に対応できるよう設計された一連の実践的なプロジェクトを通じて受講者を指導します。コース概要をダウンロードして、プログラムの全容をご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n独自のTestProfilerテストを設計\n独自のプロファイラー波形を作成、読み込み、保存\n拡張荷重制御またはひずみ制御を使用\n様々な波形を作成 – 絶対/相対ランプ、三角波、保持など\n特定のテストセグメントから結果を選択\nアクションとイベントでテストシーケンスを拡張\n波形に基づくドメイン式を活用\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development-2/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2024/11/virtual-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270427T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270427T170000
DTSTAMP:20260918T151919Z
CREATED:20260918T151919Z
LAST-MODIFIED:20260918T151919Z
UID:10000857-1808816400-1808845200@www.instron.jp
SUMMARY:静的材料試験入門
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者は材料試験について学びます。このコースでは、機械的特性、さまざまな試験の種類、応力/ひずみ試験曲線、弾性率、降伏、およびコンピュータ化された材料試験機器でのデモンストレーションを含むアプリケーション試験など、材料試験の基礎を重点的に取り上げます。受講者は、引張試験、圧縮試験、曲げ試験、およびピール試験を観察し、試験曲線と計算結果の解釈方法を学びます。コース概要をダウンロードして、プログラムの全容をご確認ください。 \nこのコースを修了すると、次のことができるようになります。 \n\n材料試験の基本的な用語、理論、概念を理解する\n典型的な荷重/変位試験曲線を理解し、さまざまな種類の曲線を区別できるようになる\n典型的な引張試験、圧縮試験、曲げ試験、およびピール試験を実施する際の注意事項\nコンピュータ化された試験機器を使用して引張試験、圧縮試験、曲げ試験、およびピール試験を実施する際の適切な試験手順を学ぶ\nデータの精度を確保するためのシステム校正の重要性を学ぶ\n試験片の形状と試験片寸法の重要性を理解する\n応力、ひずみ、伸び、弾性率、オフセット降伏、およびその他の高度な計算を行う\n試験曲線を解釈し、主要なポイントと結果にラベルを付けることができるようになる\nさまざまな種類のひずみ測定と測定装置を理解する\n\nこのコースに登録する
URL:https://www.instron.jp/ja/event/introduction-to-static-materials-testing-15/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/classroom-with-projector.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270428T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270428T170000
DTSTAMP:20260918T152011Z
CREATED:20260918T152011Z
LAST-MODIFIED:20260918T152011Z
UID:10000705-1808902800-1808931600@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal Introduction to Test Method Development
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the basic tools and features of Bluehill Universal. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of projects designed to foster an understanding of basic Test Method development. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nRun tests\, generate graphs\, and produce test reports\nSetup calculations and test results\nCreate\, save and retrieve test method and same data files\nSetup test control parameter\nExport results and raw data\nStreamline your workflow using Bluehill best practices\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-3/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270428T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270428T170000
DTSTAMP:20260918T181905Z
CREATED:20260918T181905Z
LAST-MODIFIED:20260918T181905Z
UID:10000992-1808902800-1808931600@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験メソッド開発の概要
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定インストロン・トレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの基本ツールと機能を学びます。実践的なアプローチで、基本的な試験方法の開発を理解するために設計された一連のプロジェクトを、インストラクターがガイドします。プログラム全体を確認するには、コース概要をダウンロードしてください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n試験の実行、グラフの作成、試験レポートの作成\n計算と試験結果の設定\n試験方法と同じデータファイルの作成、保存、呼び出し\n試験制御パラメータの設定\n結果と生データのエクスポート\nBluehillのベストプラクティスを活用してワークフローを効率化\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-04-25-2027/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/high-wycombe-classroom-with-instructor.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270429T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270429T170000
DTSTAMP:20260918T171043Z
CREATED:20260918T171043Z
LAST-MODIFIED:20260918T171043Z
UID:10000764-1808989200-1809018000@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 高度な試験方法開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定されたInstronトレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの高度なツールと機能を学びます。実習形式で、インストラクターが一連のプロジェクトを通して、高度な試験方法の開発および管理者向け制御の理解を深められるよう指導します。プログラム全体を確認するには、コース概要をダウンロードしてください。 \nこのコースを修了すると、次のことができるようになります。 \n\nメソッド開発プロセスを通してExpression Builder機能を活用する\n計算およびグラフ領域を理解する\n仮想測定の活用を理解する\nカスタムトランスデューサを設定する\nInstron® Connectの機能を理解する\nソフトウェアのセキュリティおよびログイン設定を設定する\n\nこのコースに登録する
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development-11/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/student-raising-hand-classroom-with-instructor.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270430T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270430T170000
DTSTAMP:20260918T171131Z
CREATED:20260918T171131Z
LAST-MODIFIED:20260918T171131Z
UID:10000792-1809075600-1809104400@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler メソッド開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターと共に、Bluehill Universalの強力なTestProfiler機能の様々なツールと機能を学習します。実践的なアプローチを用いて、インストラクターは、受講者の研究室固有の要求に対応できるよう設計された一連の実践的なプロジェクトを通じて受講者を指導します。コース概要をダウンロードして、プログラムの全容をご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n独自のTestProfilerテストを設計\n独自のプロファイラー波形を作成、読み込み、保存\n拡張荷重制御またはひずみ制御を使用\n様々な波形を作成 – 絶対/相対ランプ、三角波、保持など\n特定のテストセグメントから結果を選択\nアクションとイベントでテストシーケンスを拡張\n波形に基づくドメイン式を活用\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development-7/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/high-wycombe-classroom-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270510T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270510T170000
DTSTAMP:20260918T151910Z
CREATED:20260918T151910Z
LAST-MODIFIED:20260918T151910Z
UID:10001050-1809939600-1809968400@www.instron.jp
SUMMARY:静的材料試験入門
DESCRIPTION:この1日コースでは、材料試験について学びます。このコースでは、機械的特性、さまざまな試験の種類、応力/ひずみ試験曲線、弾性率、降伏、およびコンピューター化された材料試験機を使用した実演を含む、材料試験の基礎を重点的に取り上げます。受講者は、引張試験、圧縮試験、曲げ試験、およびピール試験を観察し、試験曲線と計算結果の解釈方法を学びます。プログラムの全容については、コース概要をダウンロードしてご確認ください。 \nこのコースを修了すると、次のことができるようになります。 \n\n材料試験の基本的な用語、理論、および概念を理解する\n典型的な荷重/変位試験曲線を理解し、さまざまな種類の曲線を区別できるようになる\n典型的な引張試験、圧縮試験、曲げ試験、およびピール試験を実施する際の注意事項\nコンピューター化された試験機を使用して引張試験、圧縮試験、曲げ試験、およびピール試験を実施する際の適切な試験手順を学ぶ\nデータの精度を確保するためのシステム校正の重要性を学ぶ\n試験片の形状と試験片寸法の重要性を理解する\n応力、ひずみ、伸び、弾性率、オフセット降伏、およびその他の高度な計算を行う\n試験曲線を解釈し、主要なポイントと結果にラベルを付けることができるようになる\nさまざまな種類のひずみ測定と測定装置を理解する\n\nこのコースに登録する
URL:https://www.instron.jp/ja/event/introduction-to-static-materials-testing-11/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2024/11/virtual-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270511T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270511T170000
DTSTAMP:20260918T151959Z
CREATED:20260918T151959Z
LAST-MODIFIED:20260918T151959Z
UID:10000701-1810026000-1810054800@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal Introduction to Test Method Development
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the basic tools and features of Bluehill Universal. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of projects designed to foster an understanding of basic Test Method development. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nRun tests\, generate graphs\, and produce test reports\nSetup calculations and test results\nCreate\, save and retrieve test method and same data files\nSetup test control parameter\nExport results and raw data\nStreamline your workflow using Bluehill best practices\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-3/
LOCATION:バーチャル
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270511T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270511T170000
DTSTAMP:20260918T182154Z
CREATED:20260918T182154Z
LAST-MODIFIED:20260918T182154Z
UID:10000998-1810026000-1810054800@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験メソッド開発の概要
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者は認定Instronトレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの基本ツールと機能を学びます。実習形式で、基本的な試験方法（Test Method）開発の理解を深めるために設計された一連のプロジェクトを、インストラクターがガイドします。全プログラムを確認するには、コース概要をダウンロードしてください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n試験の実行、グラフの作成、試験レポートの作成\n計算と試験結果の設定\n試験方法と同じデータファイルの作成、保存、呼び出し\n試験制御パラメータの設定\n結果と生データのエクスポート\nBluehillのベストプラクティスを活用してワークフローを効率化\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-05-11-2027/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270512T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270512T170000
DTSTAMP:20260918T171033Z
CREATED:20260918T171033Z
LAST-MODIFIED:20260918T171033Z
UID:10000911-1810112400-1810141200@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 高度な試験方法開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者は認定Instronトレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの高度なツールと機能を学びます。実践的なアプローチで、インストラクターが一連のプロジェクトを通して、高度な試験方法の開発と管理者向け制御の理解を深められるよう指導します。プログラム全体はコース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後、以下ができるようになります。 \n\n試験方法開発プロセスを通してExpression Builder機能を活用する\n計算およびグラフ領域を理解する\n仮想測定の活用を理解する\nカスタムトランスデューサを設定する\nInstron Connectの機能を理解する\nソフトウェアのセキュリティおよびログイン設定を設定する\n\nこのコースに登録する
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development-7/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/06/online-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270513T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270513T170000
DTSTAMP:20260918T171125Z
CREATED:20260918T171125Z
LAST-MODIFIED:20260918T171125Z
UID:10000803-1810198800-1810227600@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler メソッド開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターと共に、Bluehill Universalの強力なTestProfiler機能の様々なツールと機能を学習します。実践的なアプローチを用いて、インストラクターは、受講者の研究室特有の要求に対応できるよう設計された一連の実践的なプロジェクトを通じて受講者を指導します。コース概要をダウンロードして、プログラム全体をご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n独自のTestProfilerテストを設計\n独自のプロファイラー波形を作成、読み込み、保存\n拡張荷重制御またはひずみ制御を使用\n様々な波形を作成 – 絶対/相対ランプ、三角波、保持など\n特定のテストセグメントから結果を選択\nアクションとイベントでテストシーケンスを拡張\n波形に基づくドメイン式を活用\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development-3/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/06/online-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270608T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270608T170000
DTSTAMP:20260918T151921Z
CREATED:20260918T151921Z
LAST-MODIFIED:20260918T151921Z
UID:10000833-1812445200-1812474000@www.instron.jp
SUMMARY:静的材料試験入門
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者は材料試験について学びます。このコースでは、機械的特性、さまざまな種類の試験、応力/ひずみ試験曲線、弾性率、降伏、アプリケーション試験など、材料試験の基礎に焦点を当て、コンピュータ制御材料試験機による実演も行います。受講者は、引張、圧縮、曲げ、剥離試験を観察し、試験曲線と計算結果の解釈方法を学びます。プログラムの詳細は、コース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことができるようになります： \n\n材料試験の基本的な用語、理論、概念の理解\n代表的な荷重/変位試験曲線を理解し、異なる種類の曲線を区別できる\n一般的な引張、圧縮、曲げ、剥離試験を実施する際の注意事項（Do’s and Don’ts）\nコンピュータ制御試験機を使用して引張、圧縮、曲げ、剥離試験を行う際の適切な試験手順の習得\nデータ精度のためのシステム校正の重要性の習得\n試験片の形状と寸法の重要性の理解\n応力、ひずみ、伸び、弾性率、オフセット降伏、その他の高度な計算\n試験曲線の解釈、および主要なポイントと結果のラベル付けができる\nさまざまな種類のひずみ測定と装置の理解\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/introduction-to-static-materials-testing-16/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/classroom-with-instructor-big-projector.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270609T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270609T170000
DTSTAMP:20260918T152032Z
CREATED:20260918T152032Z
LAST-MODIFIED:20260918T152032Z
UID:10000884-1812531600-1812560400@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験メソッド開発の概要
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定インストロン・トレーニング・インストラクターと共に、Bluehill Universalの基本的なツールと機能を学習します。実践的なアプローチを用いて、インストラクターが基本的な試験メソッド開発の理解を深めるために設計された一連のプロジェクトを通じて受講者を指導します。コース概要をダウンロードして、プログラムの全容をご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n試験の実行、グラフの生成、試験レポートの作成\n計算と試験結果の設定\n試験メソッドとデータファイルの作成、保存、取得\n試験制御パラメータの設定\n結果と生データのエクスポート\nBluehillのベストプラクティスを用いたワークフローの効率化\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-3/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/high-wycombe-classroom-with-instructor.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270610T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270610T170000
DTSTAMP:20260918T171044Z
CREATED:20260918T171044Z
LAST-MODIFIED:20260918T171044Z
UID:10000912-1812618000-1812646800@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 高度な試験方法開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの高度なツールと機能を学びます。実践的なアプローチで、インストラクターが一連のプロジェクトを通して、高度な試験方法の開発と管理者向け制御の理解を深められるよう指導します。コース概要をダウンロードして、プログラム全体をご確認ください。 \n本コース修了後、以下ができるようになります。 \n\n試験方法の開発プロセスを通じてExpression Builder機能を活用する\n計算およびグラフ領域を理解する\n仮想測定の活用を理解する\nカスタムトランスデューサーを設定する\nInstron® Connectの機能を理解する\nソフトウェアのセキュリティとログイン設定を設定する\n\nこのコースに登録する
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development-12/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/student-with-instructor-norwood-classroom.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270611T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270611T170000
DTSTAMP:20260918T171141Z
CREATED:20260918T171141Z
LAST-MODIFIED:20260918T171141Z
UID:10000722-1812704400-1812733200@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler Method Development
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the various tools and functions of Bluehill Universal’s powerful TestProfiler feature. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of realistic projects designed to prepare the student for the unique demands of his or her laboratory. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nDesign your own TestProfiler tests\nCreate\, load\, and save your own profiler waveforms\nUse enhanced load or strain control\nCreate different waveforms – absolute/relative ramps\, triangle\, holds and more\nSelect results from specific test segments\nAugment test sequences with Actions and Events\nUtilize domain expressions based on waveform\n\nBook This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development-8/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270611T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270611T170000
DTSTAMP:20260918T183026Z
CREATED:20260918T183026Z
LAST-MODIFIED:20260918T183026Z
UID:10001018-1812704400-1812733200@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler メソッド開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者はインストロン認定トレーニング講師とともに、Bluehill Universalの強力なTestProfiler機能のさまざまなツールや機能を学習します。実践的なアプローチを用いて、講師は受講者のラボ特有のニーズに備えるための、一連の現実的なプロジェクトを通じて受講者を指導します。プログラムの詳細は、コース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n独自のTestProfiler試験を設計\n独自のプロファイラ波形の作成、読み込み、保存\n拡張された荷重またはひずみ制御の使用\nさまざまな波形（絶対/相対ランプ、三角波、保持など）の作成\n特定の試験セグメントからの結果の選択\nアクションとイベントによる試験シーケンスの拡張\n波形に基づいたドメイン式の活用\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development-06-11-2027/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2024/11/virtual-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270712T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270712T170000
DTSTAMP:20260918T151912Z
CREATED:20260918T151912Z
LAST-MODIFIED:20260918T151912Z
UID:10001061-1815382800-1815411600@www.instron.jp
SUMMARY:静的材料試験入門
DESCRIPTION:この1日コースでは、材料試験について学びます。本コースでは、機械的特性、さまざまな試験の種類、応力/ひずみ試験曲線、弾性率、降伏、ならびにコンピュータ制御の材料試験機を用いたデモンストレーションによるアプリケーション試験など、材料試験の基礎を重点的に扱います。引張、圧縮、曲げ、はく離試験を観察し、試験曲線と算出結果の解釈方法を学びます。全プログラムはコース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後、次のことができるようになります： \n\n材料試験の基本用語、理論、概念を理解する\n代表的な荷重/変位試験曲線を理解し、曲線の種類を区別できる\n代表的な引張、圧縮、曲げ、はく離試験を実施する際の注意点（Do’s and Dont’s）\nコンピュータ制御試験機を使用して引張、圧縮、曲げ、はく離試験を行う際の適切な試験手順を学ぶ\nデータ精度のためのシステム校正の重要性を学ぶ\n試験片形状と試験片寸法の重要性を理解する\n応力、ひずみ、伸び、弾性率、オフセット降伏、その他の高度な計算を行う\n試験曲線を解釈し、主要なポイントと結果にラベル付けできる\nひずみ測定の種類と測定装置を理解する\n\nこのコースに登録する
URL:https://www.instron.jp/ja/event/introduction-to-static-materials-testing-12/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/student-with-instructor-norwood-classroom.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270713T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270713T170000
DTSTAMP:20260918T152001Z
CREATED:20260918T152001Z
LAST-MODIFIED:20260918T152001Z
UID:10000702-1815469200-1815498000@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal Introduction to Test Method Development
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the basic tools and features of Bluehill Universal. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of projects designed to foster an understanding of basic Test Method development. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nRun tests\, generate graphs\, and produce test reports\nSetup calculations and test results\nCreate\, save and retrieve test method and same data files\nSetup test control parameter\nExport results and raw data\nStreamline your workflow using Bluehill best practices\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-3/
LOCATION:バーチャル
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270713T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270713T170000
DTSTAMP:20260918T182622Z
CREATED:20260918T182622Z
LAST-MODIFIED:20260918T182622Z
UID:10001003-1815469200-1815498000@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験メソッド開発の概要
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定インストロン・トレーニング・インストラクターとともに、Bluehill Universalの基本ツールと機能を学びます。実習形式で、基本的な試験方法（Test Method）開発の理解を深めるために設計された一連のプロジェクトを、インストラクターがガイドします。プログラム全体を確認するには、コース概要をダウンロードしてください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n試験の実行、グラフの作成、試験レポートの作成\n計算と試験結果の設定\n試験方法と同じデータファイルの作成、保存、呼び出し\n試験制御パラメータの設定\n結果と生データのエクスポート\nBluehillのベストプラクティスを活用してワークフローを効率化\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-07-13-2027/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/student-holding-dogbone-with-course-materials.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270714T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270714T170000
DTSTAMP:20260918T171035Z
CREATED:20260918T171035Z
LAST-MODIFIED:20260918T171035Z
UID:10000953-1815555600-1815584400@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 高度な試験方法開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定されたInstronトレーニングインストラクターと共に、Bluehill Universalの高度なツールや機能を詳しく学びます。実践的なアプローチを通じて、インストラクターが高度な試験メソッドの開発や管理コントロールの理解を深めるためのさまざまなプロジェクトを指導します。プログラムの詳細は、コース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後は、以下のことが可能になります： \n\nメソッド開発プロセスにおけるエクスプレッションビルダー機能の活用\n計算およびグラフィカルドメインの理解\n仮想計測の活用の理解\nカスタムトランスデューサのセットアップ\nInstron Connectの機能の理解\nソフトウェアのセキュリティおよびログイン設定のセットアップ\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development-8/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2024/11/virtual-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270715T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270715T170000
DTSTAMP:20260918T171127Z
CREATED:20260918T171127Z
LAST-MODIFIED:20260918T171127Z
UID:10000806-1815642000-1815670800@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler メソッド開発
DESCRIPTION:この1日間のコースでは、インストロンの認定トレーニングインストラクターと共に、Bluehill Universalの強力なTestProfiler機能のさまざまなツールや機能を学びます。実践的なアプローチを用いて、インストラクターが受講者のラボ特有のニーズに対応できるよう設計された一連の現実的なプロジェクトを通じて指導します。プログラムの詳細は、コース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n独自のTestProfiler試験の設計\n独自のプロファイラ波形の作成、読み込み、保存\n拡張された荷重またはひずみ制御の使用\nさまざまな波形（絶対/相対ランプ、三角波、保持など）の作成\n特定の試験セグメントからの結果の選択\nアクションとイベントによる試験シーケンスの拡張\n波形に基づいたドメイン式の活用\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development-4/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/06/online-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
END:VCALENDAR