BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//Instron - ECPv6.18.2//NONSGML v1.0//EN
CALSCALE:GREGORIAN
METHOD:PUBLISH
X-ORIGINAL-URL:https://www.instron.jp/ja/
X-WR-CALDESC:Instron のイベント
REFRESH-INTERVAL;VALUE=DURATION:PT1H
X-Robots-Tag:noindex
X-PUBLISHED-TTL:PT1H
BEGIN:VTIMEZONE
TZID:America/New_York
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20260308T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20261101T060000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20270314T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20271107T060000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20280312T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20281105T060000
END:STANDARD
END:VTIMEZONE
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270309T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270309T170000
DTSTAMP:20260918T151918Z
CREATED:20260918T151918Z
LAST-MODIFIED:20260918T151918Z
UID:10000737-1804582800-1804611600@www.instron.jp
SUMMARY:静的材料試験入門
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者は材料試験について学びます。このコースでは、機械的特性、さまざまな試験の種類、応力・ひずみ曲線、弾性係数、降伏、およびコンピュータ制御の材料試験機を使用した実演を含むアプリケーション試験など、材料試験の基礎に焦点を当てます。受講者は引張、圧縮、曲げ、および剥離試験を観察し、試験曲線と計算結果の解釈方法を学びます。プログラムの詳細は、コース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります： \n\n材料試験の基本的な用語、理論、および概念の理解\n代表的な荷重・変位試験曲線の理解と、異なる種類の曲線の判別\n代表的な引張、圧縮、曲げ、および剥離試験を実施する際の注意事項（Do’s and Dont’s）\nコンピュータ制御の試験機を使用して引張、圧縮、曲げ、および剥離試験を行う際の適切な試験手順の習得\nデータ精度のためのシステム校正の重要性の理解\n試験片の形状と寸法の重要性の理解\n応力、ひずみ、伸び、弾性係数、オフセット耐力、およびその他の高度な計算の実施\n試験曲線の解釈と、主要なポイントおよび結果のラベル付け\nさまざまな種類のひずみ測定と測定デバイスの理解\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/introduction-to-static-materials-testing-14/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/classroom-with-projector.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270310T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270310T170000
DTSTAMP:20260918T152008Z
CREATED:20260918T152008Z
LAST-MODIFIED:20260918T152008Z
UID:10000704-1804669200-1804698000@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal Introduction to Test Method Development
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the basic tools and features of Bluehill Universal. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of projects designed to foster an understanding of basic Test Method development. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nRun tests\, generate graphs\, and produce test reports\nSetup calculations and test results\nCreate\, save and retrieve test method and same data files\nSetup test control parameter\nExport results and raw data\nStreamline your workflow using Bluehill best practices\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-3/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270310T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270310T170000
DTSTAMP:20260918T181220Z
CREATED:20260918T181220Z
LAST-MODIFIED:20260918T181220Z
UID:10000981-1804669200-1804698000@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験メソッド開発の概要
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者はインストロンの認定トレーニングインストラクターと共に、Bluehill Universalの基本的なツールや機能を学びます。実践的なアプローチを用い、インストラクターの指導のもと、試験メソッド開発の基礎を理解するためのさまざまなプロジェクトに取り組みます。プログラムの詳細は、コース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n試験の実行、グラフの作成、試験レポートの作成\n計算式と試験結果の設定\n試験メソッドとサンプルデータファイルの作成、保存、呼び出し\n試験制御パラメータの設定\n結果と生データの出力\nBluehillのベストプラクティスを用いたワークフローの効率化\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-4/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/student-with-touchscreen-instructor-norwood-classroom.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270311T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270311T170000
DTSTAMP:20260918T171041Z
CREATED:20260918T171041Z
LAST-MODIFIED:20260918T171041Z
UID:10000789-1804755600-1804784400@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 高度な試験方法開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者は認定Instronトレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの高度なツールと機能を学びます。実践的なアプローチで、インストラクターが一連のプロジェクトを通して、高度な試験方法の開発と管理者向け制御の理解を深められるよう指導します。コース概要をダウンロードして、プログラム全体をご確認ください。 \nこのコースを修了すると、次のことができるようになります。 \n\n試験方法の開発プロセスを通してExpression Builder機能を活用する\n計算およびグラフ領域を理解する\n仮想測定の活用を理解する\nカスタムトランスデューサーを設定する\nInstron® Connectの機能を理解する\nソフトウェアのセキュリティおよびログイン設定を設定する\n\nこのコースに登録
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development-10/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/student-raising-hand-classroom-with-instructor.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270312T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270312T170000
DTSTAMP:20260918T171130Z
CREATED:20260918T171130Z
LAST-MODIFIED:20260918T171130Z
UID:10000772-1804842000-1804870800@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler メソッド開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定インストロン・トレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの強力なTestProfiler機能に搭載された各種ツールと機能を学びます。実習形式で、受講者それぞれのラボ特有の要件に対応できるよう、現実的なプロジェクトを通してインストラクターが指導します。コース概要をダウンロードして、プログラム全体をご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n独自のTestProfiler試験を設計\n独自のプロファイラ波形の作成、読み込み、保存\n強化された荷重またはひずみ制御を使用\nさまざまな波形を作成（絶対/相対ランプ、三角波、保持など）\n特定の試験セグメントから結果を選択\nアクションとイベントで試験シーケンスを拡張\n波形に基づくドメイン式を活用\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development-6/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/high-wycombe-classroom-with-instructor.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
END:VCALENDAR