BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//Instron - ECPv6.18.2//NONSGML v1.0//EN
CALSCALE:GREGORIAN
METHOD:PUBLISH
X-WR-CALNAME:Instron
X-ORIGINAL-URL:https://www.instron.jp/ja/
X-WR-CALDESC:Instron のイベント
REFRESH-INTERVAL;VALUE=DURATION:PT1H
X-Robots-Tag:noindex
X-PUBLISHED-TTL:PT1H
BEGIN:VTIMEZONE
TZID:America/New_York
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20260308T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20261101T060000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20270314T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20271107T060000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20280312T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20281105T060000
END:STANDARD
END:VTIMEZONE
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270315T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270315T170000
DTSTAMP:20260918T151909Z
CREATED:20260918T151909Z
LAST-MODIFIED:20260918T151909Z
UID:10001044-1805101200-1805130000@www.instron.jp
SUMMARY:静的材料試験入門
DESCRIPTION:この1日コースでは、材料試験について学びます。本コースでは、機械的特性、さまざまな試験の種類、応力・ひずみ試験曲線、弾性率、耐力、アプリケーション試験など、材料試験の基礎に焦点を当て、コンピューター制御の材料試験機を用いた実演を行います。受講者は、引張、圧縮、曲げ、剥離試験を観察し、試験曲線や算出された結果の解釈方法を学びます。プログラムの詳細は、コース概要をダウンロードしてご確認ください。 \n本コース修了後には、以下のことが可能になります： \n\n材料試験の基本的な用語、理論、概念の理解\n代表的な荷重・変位試験曲線の理解と、異なる種類の曲線の判別\n代表的な引張、圧縮、曲げ、剥離試験を実施する際の注意事項（Do’s and Don’ts）の習得\nコンピューター制御の試験機を使用して引張、圧縮、曲げ、剥離試験を行う際の適切な試験手順の習得\nデータ精度のためのシステム校正の重要性の理解\n試験片の形状と寸法の重要性の理解\n応力、ひずみ、伸び、弾性率、オフセット耐力、およびその他の高度な計算の実施\n試験曲線の解釈と、主要なポイントおよび結果のラベル付け\nさまざまな種類のひずみ測定と測定デバイスの理解\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/introduction-to-static-materials-testing-10/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2024/11/virtual-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270316T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270316T170000
DTSTAMP:20260918T151923Z
CREATED:20260918T151923Z
LAST-MODIFIED:20260918T151923Z
UID:10000854-1805187600-1805216400@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験メソッド開発の概要
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターと共に、Bluehill Universalの基本的なツールと機能を学習します。実践的なアプローチを用いて、インストラクターが基本的なテストメソッド開発の理解を深めるために設計された一連のプロジェクトを通じて受講者を指導します。コース概要をダウンロードして、プログラムの全容をご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\nテストの実行、グラフの生成、テストレポートの作成\n計算とテスト結果の設定\nテストメソッドとデータファイルの作成、保存、取得\nテスト制御パラメータの設定\n結果と生データのエクスポート\nBluehillのベストプラクティスを使用したワークフローの効率化\n\nこのコースに登録する
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-2/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/06/online-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270317T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270317T170000
DTSTAMP:20260918T171032Z
CREATED:20260918T171032Z
LAST-MODIFIED:20260918T171032Z
UID:10000904-1805274000-1805302800@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 高度な試験方法開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターと共に、Bluehill Universalの高度なツールと機能を学習します。実践的なアプローチを用いて、インストラクターが高度な試験方法の開発と管理制御の理解を深めるために設計された一連のプロジェクトを通じて受講者を指導します。コース概要をダウンロードして、プログラム全体をご確認ください。 \nこのコースを修了すると、以下のことができるようになります: \n\n試験方法開発プロセスを通じてExpression Builder機能を活用する\n計算およびグラフィカルドメインを理解する\n仮想測定の活用を理解する\nカスタムトランスデューサを設定する\nInstron Connectの機能を理解する\nソフトウェアのセキュリティとログイン設定を行う\n\nこのコースに登録する
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development-6/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/dogbone-with-course-materials.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270318T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270318T170000
DTSTAMP:20260918T171050Z
CREATED:20260918T171050Z
LAST-MODIFIED:20260918T171050Z
UID:10000773-1805360400-1805389200@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler メソッド開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターと共に、Bluehill Universalの強力なTestProfiler機能の様々なツールと機能を学習します。実践的なアプローチを用いて、インストラクターは、受講者の研究室固有の要求に対応できるよう設計された一連の実践的なプロジェクトを通じて受講者を指導します。コース概要をダウンロードして、プログラムの全容をご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n独自のTestProfilerテストを設計\n独自のプロファイラー波形を作成、読み込み、保存\n拡張荷重制御またはひずみ制御を使用\n様々な波形を作成 – 絶対/相対ランプ、三角波、保持など\n特定のテストセグメントから結果を選択\nアクションとイベントでテストシーケンスを拡張\n波形に基づくドメイン式を活用\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development-2/
LOCATION:バーチャル
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2024/11/virtual-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
END:VEVENT
END:VCALENDAR