BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//Instron - ECPv6.18.2//NONSGML v1.0//EN
CALSCALE:GREGORIAN
METHOD:PUBLISH
X-ORIGINAL-URL:https://www.instron.jp/ja/
X-WR-CALDESC:Instron のイベント
REFRESH-INTERVAL;VALUE=DURATION:PT1H
X-Robots-Tag:noindex
X-PUBLISHED-TTL:PT1H
BEGIN:VTIMEZONE
TZID:America/New_York
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20260308T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20261101T060000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20270314T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20271107T060000
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
TZOFFSETFROM:-0500
TZOFFSETTO:-0400
TZNAME:EDT
DTSTART:20280312T070000
END:DAYLIGHT
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0400
TZOFFSETTO:-0500
TZNAME:EST
DTSTART:20281105T060000
END:STANDARD
END:VTIMEZONE
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270427T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270427T170000
DTSTAMP:20260918T151919Z
CREATED:20260918T151919Z
LAST-MODIFIED:20260918T151919Z
UID:10000857-1808816400-1808845200@www.instron.jp
SUMMARY:静的材料試験入門
DESCRIPTION:この1日コースでは、受講者は材料試験について学びます。このコースでは、機械的特性、さまざまな試験の種類、応力/ひずみ試験曲線、弾性率、降伏、およびコンピュータ化された材料試験機器でのデモンストレーションを含むアプリケーション試験など、材料試験の基礎を重点的に取り上げます。受講者は、引張試験、圧縮試験、曲げ試験、およびピール試験を観察し、試験曲線と計算結果の解釈方法を学びます。コース概要をダウンロードして、プログラムの全容をご確認ください。 \nこのコースを修了すると、次のことができるようになります。 \n\n材料試験の基本的な用語、理論、概念を理解する\n典型的な荷重/変位試験曲線を理解し、さまざまな種類の曲線を区別できるようになる\n典型的な引張試験、圧縮試験、曲げ試験、およびピール試験を実施する際の注意事項\nコンピュータ化された試験機器を使用して引張試験、圧縮試験、曲げ試験、およびピール試験を実施する際の適切な試験手順を学ぶ\nデータの精度を確保するためのシステム校正の重要性を学ぶ\n試験片の形状と試験片寸法の重要性を理解する\n応力、ひずみ、伸び、弾性率、オフセット降伏、およびその他の高度な計算を行う\n試験曲線を解釈し、主要なポイントと結果にラベルを付けることができるようになる\nさまざまな種類のひずみ測定と測定装置を理解する\n\nこのコースに登録する
URL:https://www.instron.jp/ja/event/introduction-to-static-materials-testing-15/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/classroom-with-projector.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270428T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270428T170000
DTSTAMP:20260918T152011Z
CREATED:20260918T152011Z
LAST-MODIFIED:20260918T152011Z
UID:10000705-1808902800-1808931600@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal Introduction to Test Method Development
DESCRIPTION:In this one-day course\, students will work with a certified Instron training instructor to explore the basic tools and features of Bluehill Universal. Using a hands-on approach\, the instructor will guide students through a series of projects designed to foster an understanding of basic Test Method development. Download the course outline to see the full program. \nAfter completing this course\, you will be able to: \n\nRun tests\, generate graphs\, and produce test reports\nSetup calculations and test results\nCreate\, save and retrieve test method and same data files\nSetup test control parameter\nExport results and raw data\nStreamline your workflow using Bluehill best practices\n\nRegister for This Course
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-3/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270428T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270428T170000
DTSTAMP:20260918T181905Z
CREATED:20260918T181905Z
LAST-MODIFIED:20260918T181905Z
UID:10000992-1808902800-1808931600@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 試験メソッド開発の概要
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定インストロン・トレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの基本ツールと機能を学びます。実践的なアプローチで、基本的な試験方法の開発を理解するために設計された一連のプロジェクトを、インストラクターがガイドします。プログラム全体を確認するには、コース概要をダウンロードしてください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n試験の実行、グラフの作成、試験レポートの作成\n計算と試験結果の設定\n試験方法と同じデータファイルの作成、保存、呼び出し\n試験制御パラメータの設定\n結果と生データのエクスポート\nBluehillのベストプラクティスを活用してワークフローを効率化\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-introduction-to-test-method-development-04-25-2027/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/high-wycombe-classroom-with-instructor.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270429T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270429T170000
DTSTAMP:20260918T171043Z
CREATED:20260918T171043Z
LAST-MODIFIED:20260918T171043Z
UID:10000764-1808989200-1809018000@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal 高度な試験方法開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定されたInstronトレーニングインストラクターとともに、Bluehill Universalの高度なツールと機能を学びます。実習形式で、インストラクターが一連のプロジェクトを通して、高度な試験方法の開発および管理者向け制御の理解を深められるよう指導します。プログラム全体を確認するには、コース概要をダウンロードしてください。 \nこのコースを修了すると、次のことができるようになります。 \n\nメソッド開発プロセスを通してExpression Builder機能を活用する\n計算およびグラフ領域を理解する\n仮想測定の活用を理解する\nカスタムトランスデューサを設定する\nInstron® Connectの機能を理解する\nソフトウェアのセキュリティおよびログイン設定を設定する\n\nこのコースに登録する
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-advanced-test-method-development-11/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/student-raising-hand-classroom-with-instructor.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/New_York:20270430T090000
DTEND;TZID=America/New_York:20270430T170000
DTSTAMP:20260918T171131Z
CREATED:20260918T171131Z
LAST-MODIFIED:20260918T171131Z
UID:10000792-1809075600-1809104400@www.instron.jp
SUMMARY:Bluehill® Universal TestProfiler メソッド開発
DESCRIPTION:この1日コースでは、認定Instronトレーニングインストラクターと共に、Bluehill Universalの強力なTestProfiler機能の様々なツールと機能を学習します。実践的なアプローチを用いて、インストラクターは、受講者の研究室固有の要求に対応できるよう設計された一連の実践的なプロジェクトを通じて受講者を指導します。コース概要をダウンロードして、プログラムの全容をご確認ください。 \n本コース修了後、以下のことが可能になります。 \n\n独自のTestProfilerテストを設計\n独自のプロファイラー波形を作成、読み込み、保存\n拡張荷重制御またはひずみ制御を使用\n様々な波形を作成 – 絶対/相対ランプ、三角波、保持など\n特定のテストセグメントから結果を選択\nアクションとイベントでテストシーケンスを拡張\n波形に基づくドメイン式を活用\n\nこのコースに申し込む
URL:https://www.instron.jp/ja/event/bluehill-universal-testprofiler-method-development-7/
LOCATION:インストロン本社\, 825 University Ave\, ノーウッド\, マサチューセッツ州\, 02062-2643\, United States
CATEGORIES:トレーニング
ATTACH;FMTTYPE=image/jpeg:https://www.instron.jp/wp-content/uploads/2026/05/high-wycombe-classroom-training.jpg
ORGANIZER;CN="Instron %E3%83%88%E3%83%AC%E3%83%BC%E3%83%8B%E3%83%B3%E3%82%B0 - %E5%8C%97%E7%B1%B3":MAILTO:training_center@instron.com
GEO:42.20390177;-71.17161315
X-APPLE-STRUCTURED-LOCATION;VALUE=URI;X-ADDRESS=インストロン本社 825 University Ave ノーウッド マサチューセッツ州 02062-2643 United States;X-APPLE-RADIUS=500;X-TITLE=825 University Ave:geo:-71.17161315,42.20390177
END:VEVENT
END:VCALENDAR