デバイスの曲げ試験

課題

高品質・高信頼性をもった電子デバイスの需要が増えるにつれて、多くの企業は、製品が仕様保証内において故障しないよう、広範囲の試験の実施に取り組んでいます。3点曲げ試験は、破壊試験法として試験片の破断に至るまでの、最大応力およびデバイス中心の変位を決定します。一方、4点曲げは、潜在的な欠陥を特定するため、デバイスの広い領域に沿った最大応力を決定します。デバイスや部品において、破断に必要な応力と変位を正確に測定することは、研究開発の目的だけでなく、品質管理に対しても重要なことです。

インストロンのソリューション

インストロンは、広範囲にわたるデバイス寸法の曲げ試験に対応できる、曲げ治具を用意しています。2810-400シリーズ曲げ冶具には、色々な寸法のアンビルが複数用意されているので、様々な応用や要求に対応できます。この曲げ冶具には、3点曲げ試験実施用および4点曲げ試験実施用の上部アンビルが含まれています。更に、インストロンのマイクロ曲げ冶具(2810-400 シリーズ) により、様々なマイクロエレクトロニクス部品の3点曲げおよび4点曲げ試験が行っていただけます。[email protected] Universalソフトウェアに直接統合できる伸び計は、変位の測定に用いることができます。Bluehill® Universal ソフトウェアでは、広範な計算を行えるとともに、カスタマイズされた計算を導入することもできます。