Electronics

11月 2, 2026

Instron 68TM universal testing system on a table with Expansion Channel Module - with a background showing close up up controller panel.

Synchronized Data Acquisition on the 6800 Series

Part 2 of our synchronized data acquisition series. Learn how the controller in every Instron 6800 Series system expands with Sensor Conditioning Modules, an Expansion Channel Module, and an I/O board, so you can add measurements and coordinate external equipment on one common timeline.

9月 22, 2026

Instronシステム上のオートインジェクター試験セットアップ。同期された音声およびクリック検出データ取得を強調する挿入クローズアップ付き。

同期データ収集の解説

同期データ収集が、力、変位、センサーデータを1つのタイムラインで結び付け、機械試験の洞察を深める仕組みをご紹介します。

6月 9, 2026

暗いスタジオ環境で、青く発光するホログラフィックAIニューラルネットワーク球体（「AI」の文字）を表示するスマートフォンを手に持つ様子

AI時代の半導体試験

AIが半導体設計を3Dパッケージング、新材料、コパッケージド・オプティクスへと押し進める中、試験も進化する必要があります。

4月 17, 2026

落下塔試験機は引張強度衝撃試験をどのように改善するか?

落下塔引張衝撃試験は、現実的な高速負荷条件下で材料がどのように挙動するかについて、直接的な実験的知見を提供します。

8月 22, 2025

トランスデューサーをInstronシステムに接続する方法：4つの手法

サードパーティ製のセンサおよびトランスデューサをInstronの試験システムに統合する場合、荷重、ひずみ、温度、圧力、変位のいずれであっても、セットアップに適した接続方法を選択する必要があります。本稿では、対応する4つのアプローチについて説明します。アナログ0~10V入力、Bluehill Universalでの自己識別および自動校正を備えた合理化接続、非Instron製トランスデューサ向けのカスタム多項式校正、およびHBM QuantumX MX430Bなどのサードパーティ製機器を介したデジタルデータ入力です。

9月 2, 2022