ディスプレイ、ボタン、ワイヤー、バッテリー、完成デバイス、またはプリント基板やチップなどのマイクロエレクトロニクス部品やアセンブリなど、どのような用途においても、インストロンは引張、圧縮、曲げ、剥離、せん断、および突刺試験用の包括的な試験アクセサリーを提供します。すべてのアクセサリーは、電子機器やマイクロエレクトロニクスの試験で要求される精度と再現性を備えて設計されています。これらの試験では、力はミリニュートン単位、試験片の寸法はミクロン単位で測定されることが一般的です。
インストロンは、リード線、ワイヤー、薄膜、不規則な形状のアセンブリなど、電子デバイスやマイクロエレクトロニクス部品の引張試験用にさまざまなグリップを提供しています。一部のグリップモデルは、接着されたコンポーネントのラップせん断試験に対応するために、ジョーフェイスをオフセットできる機能を備えています。
利用可能なグリップ
| 説明 | 容量 | カタログ番号 | |
| 空圧式サイドアクション引張グリップ | 50 N - 10 kN | 2712-04xおよび2712-05xシリーズ | 詳細情報 |
| ねじ式サイドアクション引張グリップ | 100 N - 10 kN | 2710-100シリーズ | 詳細情報 |
| マイクロ空圧式サイドアクション引張グリップ | 10 N | 2712-101 | 詳細情報 |
| 空圧式リード線プルグリップ | 500 N | 2712-212 | 詳細情報 |
| ワイヤープルフック治具 | 10 N | 2860-001 | お問い合わせ |
曲げ治具
3点および4点曲げ治具は、電子デバイス、コンポーネント、および小型マイクロエレクトロニクス部品の曲げ強度を評価するために使用されます。以下に記載されている治具に加えて、インストロンはディスプレイやフルサイズデバイスの試験用に、より広いスパンを持つさまざまな大型曲げ治具を製造しています。詳細はお問い合わせください。
利用可能な治具
| 説明 | 容量 | スパン | カタログ番号 | |
| 5 kN曲げ治具 | 5 kN | 10 - 194 mm 4 - 188 mm |
2810-400 | 詳細情報 |
| JEDEC 9702準拠4点曲げ治具 | 5 kN | 上部最大: 125 mm 下部最大: 225 mm |
CP111689 | お問い合わせ |
| ガラス試験用3点＆4点曲げ治具 | 2 kN | 20 - 200 mm | CP120055 | 詳細情報(新しいタブで開く) |
| ミニチュア3点曲げ治具 オプションの4点アンビル |
2 kN 2 kN |
3 - 105 mm | 2810-412 2810-413 |
詳細情報(新しいタブで開く) |
| マイクロ3点曲げ治具 | 1 kN 100 N |
3 - 10 mm 1 mm |
2810-411 2810-410 |
詳細情報(新しいタブで開く) |
| SEMI G86-0303準拠高精度マイクロ3点曲げ治具 | 1 kN 1 kN |
3 - 10 mm 3 - 25 mm |
CP101568 CP117370 |
詳細情報(新しいタブで開く) |
接着試験治具
剥離およびスタッドプル治具は、プリント基板上の銅配線、薄膜コーティング、粘着テープ、半導体ダイ、その他の接合構造を含む、積層材料や接合部品の接着強度を試験するために使用されます。
利用可能な治具
| 説明 | 容量 | カタログ番号 | |
| 90°剥離試験治具(新しいタブで開く) | 1 kN | 2820-035 | 詳細情報(新しいタブで開く) |
| 可変角度剥離試験治具(新しいタブで開く) | 1 kN | 2820-036 | 詳細情報(新しいタブで開く) |
| ミニチュア90度剥離治具(新しいタブで開く) | 1 kN | 2820-034 | 詳細情報(新しいタブで開く) |
| ミニチュア可変角度剥離治具 | 1 kN | 2820-033 | 詳細情報 |
| スタッドプル治具(新しいタブで開く) スタッドプル試験用試験片作成治具 |
5 kN | 2860-300 2860-301 |
詳細情報(新しいタブで開く) |
| 段付きジョーバイスクランプ | 500 N | 2860-210 | 詳細情報 |
3爪チャックおよび試験用プローブ
3爪チャックは、圧縮試験中に円筒形または不規則な形状の試験片を保持するための汎用性の高い治具です。チャックにはさまざまなプローブを取り付けることができ、ボタン、ディスプレイ、その他の電子・マイクロエレクトロニクス部品のポイントベースの圧縮試験を行うことができます。これにより、カスタム工具を使用することなく、幅広い試験片形状に試験システムを迅速かつ確実に適応させることができます。
コンポーネントテストプレートは、多数のタップ穴を備えた大型プレートで、試験が困難なコンポーネントやアセンブリを、引張、圧縮、剥離、またはその他の機械的試験のために正しい位置に固定することができます。タップ穴の配列は、カスタム治具やクランプのための複数の取り付けポイントを提供し、標準的なグリップや治具では保持できないコンポーネントを試験するための汎用性の高いプラットフォームとなります。
AT2自動XYステージ
自動XYステージを使用すると、1回の試験実行で複数の試験片の自動圧縮、曲げ、および引張試験を行ったり、複数の試験ポイントを持つデバイスやコンポーネントの試験を行ったりすることができ、手動のシングルポイント試験と比較して処理能力と再現性が大幅に向上します。ディスプレイ、ボタン、キーボード、および電子部品に一般的に使用されます。
フレームの互換性
| 説明 | 試験タイプ | |
| 万能試験機用自動XYステージ | 静的試験 | 詳細情報 |
| ElectroPulsシステム用自動XYステージ(新しいタブで開く) | 疲労試験 | 詳細情報(新しいタブで開く) |
トランスレーションおよびクランプステージは、アクチュエータの下で試験片の正確な位置決めとアライメントを提供します。これは、プローブをターゲットコンポーネントまたは試験ポイントに正確にセンタリングする必要があるマイクロエレクトロニクス試験において不可欠です。プリント基板、チップパッケージ、およびその他の小型コンポーネントを試験システム内に配置するために一般的に使用されます。
Torsion Add-On 3.0を使用すると、6800シリーズ万能試験機で軸方向とねじりの同時または独立した試験が可能になり、フレキシブルエレクトロニクス、コンポーネント、ボタン、ワイヤー、およびフレキシブルプリント回路のねじり試験までラボの能力を拡張できます。フレキシブル電子製品が使用中や組み立て中に受ける実際のねじれや曲げ荷重をシミュレートするのに理想的です。
デジタルI/Oボードと拡張チャネルを万能試験機フレームに追加して、外部測定デバイスとインターフェースをとることができます。これには、マイクロエレクトロニクス試験で使用される電圧および抵抗測定装置が含まれ、電気的出力と印加された機械的荷重を相関させることができます。これにより、Bluehill® Universalソフトウェア内で機械的データと電気的データを同時に取得することが可能になります。
最高品質の試験結果を保証するため、Instronは全てのロードセルを自社設計・製造しています。Instronのロードセルは、広い測定範囲での高精度、高剛性、偏荷重への耐性、正確な位置合わせ、優れたゼロ安定性など、材料試験システム固有の要件を満たすよう慎重に設計されています。電子・マイクロエレクトロニクス試験用に、低荷重試験に適した幅広い低容量ロードセルを提供しています。
一般的に使用される容量
多くの電子デバイスやマイクロエレクトロニクス部品は、組立工程および通常使用時の両方で極端な温度に耐えることが求められます。恒温槽を使用することで、-100 °Cから+350 °Cまでの幅広い温度条件下での製品性能を評価できます。
せん断試験治具
ダイおよびパッケージせん断試験治具は、半導体ダイまたは表面実装受動素子とパッケージヘッダーまたはその他の基板との接続の完全性を判定するために設計されています。これらの治具は、MIL STD 883、IPC TM-650、AEC-Q200-006A、ASTM F1269-13などの各種試験規格に準拠して、接着剤、はんだ、焼結銀、その他の接合剤の破壊開始に必要なせん断力を測定するために使用されます。
利用可能な治具
破裂または突き刺し治具は、包装材、織物、バッテリー内の薄膜やセパレーターフィルムの試験に一般的に使用され、プローブの貫通に対する材料の耐性を判定します。材料は通常、一組のクランプリングで保持され、実際の使用時に遭遇する応力を代表する二軸応力を受けます。
利用可能な治具
| 説明 | 容量 | カタログ番号 | |
| EN 14477準拠突き刺し試験治具 直径0.8 mmプローブ2本付属 直径1 mm、半径0.5 mmプローブ |
100 N | CP105780
CP114502 |
詳細情報 |
| ASTM F1306準拠突き刺し試験治具 | 10 kN | SI-14110 | 詳細情報 |
| ボールバースト圧縮治具 | 10 kN | 2810-195 | 詳細情報(新しいタブで開く) |
6800シリーズ万能試験機の高さと幅は、特定の用途要件に合わせてカスタマイズできます。幅拡張型フレームは、大型ディスプレイ、フルサイズノートパソコン、フォームやプラスチックなどの電子包装材料の試験に一般的に推奨されます。幅拡張型フレームは、フルサイズキーボードなどの大型デバイス試験用の自動XYステージも装備可能です。