標点距離
「標点距離」とは、引張試験中に伸びを測定する試験片の部分を指します。試験対象の材料、および使用されるASTMまたはISO規格に応じて、標点距離は、万能試験機のグリップ間の距離、または非接触ビデオ伸び計などのひずみ測定器で測定される試験片の部分として取得される場合があります。
「標点距離」は、ひずみの計算の一部としても使用されます。この場合、この用語は、試験開始前の試験片の元の長さを指します。
標点距離は、使用される試験片のサイズとタイプに基づいて標準化される傾向があります。多くの試験規格では、複数の試験片形状が許可されており、最も一般的なのはドッグボーン型とストレート（平行）試験片です。ドッグボーン形状により、試験片はグリップとシステムのコンプライアンスの影響を受けにくくなります。圧縮試験では、プラテンの高さと標点距離は、試験片と同じ高さで試験を開始すると、常に同じになります。
6800シリーズ プレミア試験システム カタログ
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Bluehill Universalは、直感的なタッチ操作と合理化されたワークフローを実現するために設計された、インストロンの高度な材料試験ソフトウェアです。事前構築された試験メソッドテンプレート、迅速なセットアップを可能にするクイックテスト、強化されたデータ出力機能、およびサービスチームとのリモート交流が可能になるInstron Connectを提供します。旧式ソフトウェアBluehill 2およびBluehill 3のユーザーは、パフォーマンスとユーザビリティを向上させるために、最新バージョンへ簡単にアップグレードいただけます。
