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マイクロエレクトロニクス部品の引張試験には、特有の把持の課題があります。試験片は非常に小さく、壊れやすく、不規則な形状であることが多いため、不適切な把持は試験片の損傷、芯出し不良、不正確な結果を招く可能性があります。インストロンのマイクロエレクトロニクス用引張グリップシリーズは、これらの課題に対処するよう設計されており、リード、ワイヤ、薄膜、単繊維、非対称アセンブリなどの幅広い部品に対して、精密で再現性の高いクランプを提供します。試験荷重容量は、空気圧式サイドアクション、ねじ式サイドアクション、マイクロ空気圧式、空気圧リードプル式の4つのグリップタイプで10 Nから10 kNに及びます。

空気圧式サイドアクション引張グリップ

空気圧式サイドアクショングリップは、グリップ本体に内蔵されたエアシリンダで作動し、デュアルサイド動作によって試験片をクランプします。把持力は入力空気圧を調整することで制御でき、把持部で試験片が収縮しても一定に保たれるため、試験全体を通して一貫した追従動作を提供します。これらのグリップは、一定で調整可能な把持力が不可欠な、柔らかく繊細なマイクロエレクトロニクス試験片に適しています。

グリップのラインナップ

試験荷重容量	カタログ番号
50 N	2712-051
250 N	2712-052
1 kN	2712-041
2 kN	2712-042
5 kN	2712-045
10 kN	2712-046

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ねじ式サイドアクショングリップ

試験片試験片試験片2710-100シリーズ・デュアル作動ねじ式サイドアクショングリップは、厚さ46 mm（1.8 in）までの試験片に対応し、重ねせん断や部品試験の構成を含む、不規則または非対称な試験片に合わせてオフセット調整が可能です。幅広い試験力容量により、繊細なマイクロエレクトロニクス部品から高荷重のアセンブリ試験まで適しています。

グリップのラインナップ

試験荷重容量	最大フェース開き（ギザ付きフェース使用時）	カタログ番号
100 N	35 mm	2710-111
500 N	35 mm	2710-112
1 kN	36 mm	2710-113
2 kN	36 mm	2710-114
5 kN	46 mm	2710-115
10 kN	46 mm	2710-116

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マイクロ空気圧サイドアクション引張グリップ

試験片マイクロ空気圧サイドアクショングリップは、可動式フェースを1つずつ備え、フットスイッチで作動します。これによりオペレーターの両手が自由になり、正確な試験片の配置が可能になります。アクセスエリアが広いため、精密な位置決めが重要な微細ワイヤ、薄膜、単繊維などの極小試験片の取り付けに特に適しています。最大試験片厚さ0.8 mm、試験荷重容量10 Nを備えたこれらのグリップは、最も繊細なマイクロエレクトロニクス引張試験用途向けに設計されています。

仕様

試験荷重容量	最大試験片厚さ	カタログ番号
10 N	0.8 mm	2712-101

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ワイヤプルフック治具

ワイヤプルフック治具は、マイクロエレクトロニクス部品のワイヤおよびワイヤボンド引張試験用に設計されています。本治具は、MIL-STD-883メソッド2011.7（ボンド強度 - 破壊ボンド引張試験）および2023.5（非破壊ボンド引張試験）の要件を満たしています。

仕様

試験荷重容量	カタログ番号
10 N	2860-001

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マイクロ空気圧サイドアクション引張グリップ

空気圧リードプルグリップは、リードフレームのプル試験専用に設計された、ニードルノーズ型ジョーフェイスを備えた平行作動の空気圧式バイスグリップです。ニードルノーズ型フェースにより、隣接する部品を損傷することなくファインピッチのリードを精密に把持でき、平行作動により一貫した中心へのクランプ力が確保され、正確で再現性の高いプル試験結果が得られます。